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채성원 (충남대학교) 윤호진 (충남대학교) 양승동 (충남대학교) 정준교 (충남대학교) 박중현 (충남대학교) 김유정 (충남대학교) 김효진 (충남대학교) 이가원 (충남대학교)
저널정보
한국전기전자재료학회 Transactions on Electrical and Electronic Materials Transactions on Electrical and Electronic Materials 제18권 제3호
발행연도
2017.6
수록면
155 - 158 (4page)
DOI
https://doi.org/10.4313/TEEM.2017.18.3.155

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In this paper, ZnO Thin Film Transistors (TFTs) were fabricated by a sol-gel method using a low-temperature process,and their physical and electrical characteristics were analyzed. To lower the process temperature to 200℃, we used azinc nitrate hydrate (Zn(NO3)2·xH2O) precursor. Thermo Gravimetric Analyzer (TGA) analysis showed that the zincnitrate hydrate precursor solution had 1.5% residual organics, much less than the 6.5% of zinc acetate dihydrate at200℃. In the sol-gel method, organic materials in the precursor disrupt formation of a high-quality film, and hightemperatureannealing is needed to remove the organic residuals, which implies that, by using zinc nitrate hydrate,ZnO devices can be fabricated at a much lower temperature. Using an X-Ray Diffractometer (XRD) and an X-rayPhotoelectron Spectrometer (XPS), 200℃ annealed ZnO film with zinc nitrate hydrate (ZnO (N)) was found to havean amorphous phase and much more oxygen vacancy (Vo) than Zn-O bonds. Despite no crystallinity, the ZnO (N) hadconductance comparable to that of ZnO with zinc acetate dihydrate (ZnO (A)) annealed at 500℃ as in TFTs. Theseresults show that sol-gel could be made a potent process for low-cost and flexible device applications by optimizingthe precursors.

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