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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
장준범 (숭실대학교) 문용 (숭실대학교)
저널정보
한국과학기술원 정보전자연구소 IDEC Journal of Integrated Circuits and Systems IDEC Journal of Integrated Circuits and Systems Vol.3 No.2
발행연도
2017.4
수록면
36 - 43 (8page)

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The high-efficiency NFC AFE(Analog Front-End) was proposed and implemented in 65nm CMOS process. We proposed the novelty architecture of Envelope Detector which is the most important block in passive mode tag because those generate their own power. The Envelope Detector generating negative voltage and it can generate the negative voltage of -0.68V that is used for body bias and can detect the small voltage swing of 0.5V. The area of the high-efficiency NFD AFE is 1.9mmx2mm and it is very small compared with the conventional NFC AFE. The digital part of NFC is also verified by FPGA board. So the proposed NFC tag is feasible for many applications.

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