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김승호 (부산대학교) 김동운 (부산대학교 기계공학부) 김대천 (부산대학교) 김준우 (부산대학교 부산대학교-바텍 차세대의료기술연구센터) 박지웅 (부산대학교) 박은평 (부산대학교 기계공학부) 김진우 (부산대학교) 김호경 (부산대학교)
저널정보
한국방사선산업학회 방사선산업학회지 방사선산업학회지 제9권 제3호
발행연도
2015.9
수록면
137 - 141 (5page)

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A single-shot dual-energy x-ray imaging technique has been developed using a sandwichdetector by stacking two detectors, in which the front and rear detectors respectively producerelatively lower and higher x-ray energy images. Each detector layer is composed of a phosphorscreen coupled with a photodiode array. The front detector layer employs a thinner phosphorscreen, whereas the rear detector layer employs a thicker phosphor screen considering thequantum efficiency for x-ray photons with higher energies. We have applied the proposed methodinto the inspection of printed circuit boards, and obtained dual-energy images with backgroundclutter suppressed. In addition, the single-shot dual-energy method provides sharper-edge imagesthan the conventional radiography because of the unsharp masking effect resulting from the useof different thickness phosphors between the two detector layers. It is promising to use the singleshotdual-energy x-ray imaging for high-resolution nondestructive testing. For the reliable use ofthe developed method, however, more quantitative analysis is further required in comparisonswith the conventional method for various types of printed circuit boards.

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