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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2023.5
- 수록면
- 128 - 128 (1page)
이용수
초록· 키워드
웨이퍼 Cleaning 공정은 전체 FAB공정에서 30~40%정도의 막대한 비중을 차지하는 공정으로 반도체 제조 프로세스에서 Si Wafer 표면의 불순물, 유기물 오염, 표면의 피막, 불순물과 같은 이물질의 오염을 물리 화학적인 방법으로 제거하는 공정기술이다. 반도체 메모리에 대한 요구가 높아짐에 따라 반도체 제조 공정의 결함 발생을 줄이고 생산 수율 향상을 위해 Paticle, Organic, Metal 등의 오염물 제거를 위한 Cleaning공정이 매우 중요하다. 이러한 Cleaning공정에 요구되는 요건으로는 클리닝 화공약품 및 가스 등의 자체 오염이 없어야 하며, 웨이퍼 표면 모든 형태의 오염원을 효과적으로 제거할 수 있을 것, 하부 구조 또는 박 ... 전체 초록 보기
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