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논문 기본 정보

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학술저널
저자정보
문태수 (선문대학교) 김기승 (선문대학교) 박윤창 (선문대학교)
저널정보
한국산학기술학회 한국산학기술학회 논문지 한국산학기술학회논문지 제24권 제9호
발행연도
2023.9
수록면
750 - 755 (6page)
DOI
10.5762/KAIS.2023.24.9.750

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PMP 삼차원 형상 측정법은 측정할 물체에 격자 패턴을 일정한 주기로 위상 이송을 하면서 영사하고, 동시에 카메라로 이미지를 획득하여 3D 형상을 측정하는 방법이다. 이때 획득된 이미지들의 픽셀 광량 변화로부터 위상값을 구할 수 있다. 하지만 반사율이 높은 고광택 물체에 격자 패턴을 영사하면 반사광이 한쪽 방향으로 크게 포화된 준정반사의 경향이 자주 나타나고, 이에 해당되는 부분은 카메라의 이미지 센서에서 매우 밝거나 어두운 값으로 얻어지게 된다. 이때의 픽셀 광량 변화는 매우 적어 비정현파의 형태가 되고, 위상값에 많은 잡음이 포함되게 된다. 본 논문에서는 PMP 형상 측정법으로 고광택 물체 측정 시, 준정반사에 의해 발생되는 잡음을 두 종류로 분류하였고, 카메라 노출시간을 변경하여 두 종류의 잡음을 줄이는 연구를 진행하였다. 제안된 방법을 적용한 결과, 이미지 전체 픽셀에서의 두 종류의 잡음이 1.827 %에서 0.201 %로 감소하는 것을 확인하였다.

목차

요약
Abstract
1. 서론
2. PMP 삼차원 측정법
3. 포화 잡음과 부족 잡음의 개선 원리
4. 결론
References

참고문헌 (8)

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