메뉴 건너뛰기
소속 기관 / 학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
고객센터 ENG
주제분류

논문 기본 정보

저자정보
(Seoul National University) (Seoul National University)
저널정보
대한전자공학회 JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE Journal of Semiconductor Technology and Science Vol.24 No.1
오류 신고하기

피인용 0

검색

    초록·키워드

    The dependency of silicon-germanium (SiGe) tunnel field-effect transistors (TFETs) on surface stoichiometry is investigated in terms of ambipolar conduction behavior. According to the device simulation results, as the Ge mole fraction of SiGe TFETs increases, p-type TFETs show better performance improvement than n-type ones owing to the SiGe band alignment. Thus, pull-up hole current becomes stronger than pull-down electron one in the case of ambipolar SiGe TFET-based complementary-like logic circuits. The simulated inverters with 50-% Ge content exhibit ~82× lower pull-up and ~9× lower pull-down delays, respectively, than those with pure Si.

    최근 본 자료 전체보기