데이터 정규화를 통한 웨이퍼 불량 검출 정확도 향상

고병찬; 김도영; 김화정

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 고병찬 (서울과학기술대학교) 김도영 (서울과학기술대학교) 김화정 (서울과학기술대학교)

저널정보: Korean Institute of Information Scientists and Engineers 한국정보과학회 학술발표논문집 한국정보과학회 2024 한국컴퓨터종합학술대회 논문집

발행연도: 2024.6

수록면: 1,645 - 1,647 (3page)

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