조건부 Implicit Neural Representations을 활용한 불량 검출 방법에 대한 연구

신은호; 전윤호

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 신은호 (국립한밭대학교) 전윤호 (국립한밭대학교)

저널정보: 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 2024년도 대한전자공학회 하계학술대회 논문집

발행연도: 2024.6

수록면: 2,358 - 2,362 (5page)

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This paper introduces a reconstruction model for defect detection in computer vision, proposing the addition of embedding values to overcome the limitations of naive implicit nerual representation models. Experimental results confirm the model"s superior performance, validating its efficacy in anomaly detection.

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