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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술대회자료
- 저자정보
- 발행연도
- 2024.11
- 수록면
- 541 - 541 (1page)
이용수
초록· 키워드
반도체를 외부 환경으로부터 보호하기 위해 Resin 계열의 재료들이 EMC, Underfill 공정에 활용되고 있으며, 공정을 진행할 경우에 Crack, Delamination 등으로 인해 불량이 발생할 수 있다. EMC, Underfill 검사를 위해 일반적으로 X-ray, SAT (Scanning Acoustic Microscope)와 같은 비파괴 형식의 검사가 주로 활용된다. 광학 현미경 방식은 표면 조사에만 국한되며, 적외선 이미징 방식은 파장의 범위가 제한되어 해상도가 낮으며 습한 환경에서 사용하기 힘든 단점이 있다. X선은 투과이미징에 유용하지만 Pb 함량이 높은 재료나 밀도 차이가 작은 재료를 이미징하는데 효과적이지 않다. 초음파를 활용한 내부 검사는 Time-of-flight 방식을 통해 다층의 구조를 ... 전체 초록 보기
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