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    As future mobility trends become autonomous and electrified, the demand for the reliability evaluation of electric vehicles (EVs) continues to grow. Reliability can be assessed by examining critical components, among which insulated gate bipolar transistors (IGBTs), one of the weakest electronic components of EVs, are considered the most vulnerable due to thermal cyclic stress imposed on solder joints under operations. In this study, Prognostics and Health Management technology is implemented to assess the health state of IGBTs under variable loading conditions using Mon ... 전체 초록 보기
    #Future Mobility #Reliability #Prognostics and Health Management #State-of-Damage Model #Cumulative Damage Model #Life Prediction Model #Monitoring Environmental Stress #IGBT #Variable Loading

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