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자료유형
학술저널
저자정보
(고려대학교) (US Naval Research Lab.)
저널정보
한양대학교 청정에너지연구소 Journal of Ceramic Processing Research Journal of Ceramic Processing Research 제8권 제5호
발행연도
수록면
331 - 335 (5page)

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During GaN growth on an on-axis SiC substrate, a large density of dislocations (~109 cm?2) is unavoidably generated by the GaN/SiC misfit, uncontrolled misorientation in the substrate and defects present at the surface of the substrate. Recently a unique SiC substrate was developed with step-free and stepped mesas as well as continuous surface areas similar to a standard wafer all in close proximity. It is now possible to isolate the influence of defects and steps on the deposition of GaN on SiC. This paper provides a link between the dislocation environment and the strain state in the GaN film as well as the change of this strain with increasing thickness.
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