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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 한양대학교 청정에너지연구소 Journal of Ceramic Processing Research Journal of Ceramic Processing Research 제8권 제5호
- 발행연도
- 2007.10
- 수록면
- 331 - 335 (5page)
이용수
초록· 키워드
During GaN growth on an on-axis SiC substrate, a large density of dislocations (~109 cm?2) is unavoidably generated by the
GaN/SiC misfit, uncontrolled misorientation in the substrate and defects present at the surface of the substrate. Recently a
unique SiC substrate was developed with step-free and stepped mesas as well as continuous surface areas similar to a standard
wafer all in close proximity. It is now possible to isolate the influence of defects and steps on the deposition of GaN on SiC.
This paper provides a link between the dislocation environment and the strain state in the GaN film as well as the change of
this strain with increasing thickness.
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