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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 저널정보
- 한양대학교 청정에너지연구소 Journal of Ceramic Processing Research Journal of Ceramic Processing Research 제11권 제3호
- 발행연도
- 2010.6
- 수록면
- 341 - 343 (3page)
이용수
초록· 키워드
Silicon nitride and oxide double layers for anti-reflection coatings on silicon were made via RF magnetron sputtering using a silicon nitride target and then studied. The silicon nitride and oxide films were obtained at sputtering conditions of 340W RF power, 5 mtorr (0.667 Pa) Ar, a 100 oC substrate temperature both in the presense and absence of oxygen, respectively. The films showed an average 3% reflectivity between a 400 and 1100 nm wavelength. The nitride had a refractive index of 2.36and an absorption coefficient of 0.21 with a thickness of 85 nm, which was 26% thicker than the ideal thickness for an antireflection coating. The oxide had a refractive index of 1.48 and an absorption coefficient of 0 with an ideal thickness of 1075 nm. The surface morphology consisted of a smooth and dense film with good adhesion to the silicon surface.
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