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저자정보
(한국생산기술연구원) (한국생산기술연구원)
저널정보
한국분말야금학회 한국분말야금학회지 한국분말재료학회지 제24권 제4호
발행연도
수록면
285 - 291 (7page)
DOI
10.4150/KPMI.2017.24.4.285

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We propose a custom analysis technique for the dark field (DF) image based on transmission electron microscopy (TEM). The custom analysis technique is developed based on the DigitalMicrograph® (DM) script language embedded in the Gatan digital microscopy software, which is used as the operational software for most TEM instruments. The developed software automatically scans an electron beam across a TEM sample and records a series of electron diffraction patterns. The recorded electron diffraction patterns provide DF and ADF images based on digital image processing. An experimental electron diffraction pattern is recorded from a IrMn polycrystal consisting of fine nanograins in order to test the proposed software. We demonstrate that the developed image processing technique well resolves nanograins of ~ 5 nm in diameter.
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