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EDP Sciences BIO Web of Conferences 129
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    boundary of the images, marked by a yellow arrow, the reconstructed images are of very high quality, with Signal-to-Reconstruction Error Ratios (SREs) greater than 43 dB. ConclusionThis work presents an inpainting method for subsampled STEM data that leverages the power of both variational and deep learning methods.Given the flexibility of PnP methods, any neural network architecture can be used as a DDP.In the future, we plan to extend this work to inpainting subsampled data in different modes of electron microscopy, such as scanning electron microscopy and 4-dimensional STEM.

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