메뉴 건너뛰기
.. 내서재 .. 알림
소속 기관/학교 인증
인증하면 논문, 학술자료 등을  무료로 열람할 수 있어요.
한국대학교, 누리자동차, 시립도서관 등 나의 기관을 확인해보세요
(국내 대학 90% 이상 구독 중)
로그인 회원가입 고객센터 ENG
주제분류

추천
검색

논문 기본 정보

자료유형
학위논문
저자정보

이정국 (충남대학교, 忠南大學校 大學院)

지도교수
홍순구
발행연도
2019
저작권
충남대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.

이용수1

표지
AI에게 요청하기
추천
검색

이 논문의 연구 히스토리 (2)

초록· 키워드

오류제보하기
This study investigated the structural properties of CoCrFeMnNi high entropy alloy oxynitride thin film which was grown by DC magnetron sputtering using oxygen and nitrogen gases. And oxynitride film was annealed under the argon gas flow for 5 hour at 800 degree. The microstructure of as-grown oxynitride thin film shows a structure in which a nanocrystalline regions with a size of 5~20 nm exists in the amorphous region, which was confirmed by high-resolution TEM (HR-TEM). From the TEM digital electron diffraction pattern (DDP) analysis was determined to be face centered cubic (FCC) structure with a lattice constant of 0.419 nm. The HEA oxynitride film showed a single phase in which metal and oxygen, nitrogen elements were uniformly distributed. After annealing, film was fully recrystallized and Ni-rich region was observed in top region at film. Annealed film showed Fe2O3 FCC structure. The as-grown film showed hardness of 8.13 GPa and Young’s modulus of 157.3 GPa, while annealed film showed hardness of 7.89 GPa and Young’s modulus of 143.8 GPa The observed high hardness value was thought as a result of hardening due to the nanoscrystalline microstructure.

목차

List of figures
1. 서론
2. 이론적 배경
2.1. 고엔트로피 합금
2.2. 분석장비
3. 실험 방법
3.1. 고엔트로피 질산화물 박막 성장
3.2. 고엔트로피 질산화물 박막 분석
4. 결과 및 고찰
4.1. As-Grown 시료 구조분석
4.2. Annealed 시료 구조분석
5. 결론
References
Abstract

최근 본 자료

전체보기

댓글(0)

0