개인구독
소속 기관이 없으신 경우, 개인 정기구독을 하시면 저렴하게
논문을 무제한 열람 이용할 수 있어요.
지원사업
학술연구/단체지원/교육 등 연구자 활동을 지속하도록 DBpia가 지원하고 있어요.
커뮤니티
연구자들이 자신의 연구와 전문성을 널리 알리고, 새로운 협력의 기회를 만들 수 있는 네트워킹 공간이에요.
논문 기본 정보
- 자료유형
- 학위논문
- 저자정보
- 지도교수
- 문수묵
- 발행연도
- 2023
- 저작권
- 서울대학교 논문은 저작권에 의해 보호받습니다.
이용수2
이 논문의 연구 히스토리 (2)
- 이 논문의 후속연구가 궁금하신가요?
- 연관 학술논문 또는 학술발표를 통해 보다 발전된 연구결과를 확인하실 수 있습니다.
- 이 논문의 연구 히스토리 확인하기
초록· 키워드
오류제보하기
DRAM 메모리의 테스트를 위한 테스트 패턴 프로그램은 ATE(Automatic Test Equipment)에 따라 프로그래밍 언어가 다르고 저수준이므로 가독성이 현저히 떨어 진다. 본 논문에서는 테스트 패턴 프로그램의 분석을 위해 새로운 형태의 기호 표 현형(symbolic representation)을 제시한다. 시뮬레이션 결과로 생성된 출력 기반의 중간 표현형(intermediate representation) 으로부터 각 사이클 핀 값을 분석하여 해당 사이클 정보를 추출해내고 이를 토대로 동일한 작업을 수행하는 사이클을 동일한 기호로 변환한다. 제품 수준의 테스트 패턴 프로그램 기반 21개의 벤치마크로 기호 표현형 변환을 진행하였고 의도한 결과가 도출됨을 확인하였다. 또한 기호 표현형을 활용한 분석 툴은 사용자가 패턴 프로그램의 구조와 작업 의도를 직관적으로 파악 할 수 있도록 도와준다. 테스트 패턴 프로그램의 변환이 완료된 기호 표현형은 패턴 프로그램 변환 시 동일성 테스트 및 최적화, 그리고 결함 모델(fault model) 역추론 등에 활용될 수 있다.
목차
초록제 1 장 서론 5제 2 장 배경지식 72.1 테스트 패턴 프로그램의 구조 72.2 테스트 패턴 프로그램의 호환성 문제 9제 3 장 Cycle Equivalency 123.1 Cycle Equivalency 12제 4 장 기호 변환 144.1 제안하는 기호 변환 방식 144.2 Equivalence Rule 154.2.1 Concrete command name 판단 154.2.2 세부 정보 판단 164.2.3 프로그램 context 고려 164.3 분석 도구 19제 5 장 실험 결과 215.1 실험 결과 21제 6 장 관련 연구 및 SR 활용 사례 246.1 관련 연구 246.1.1 패턴 프로그램 변환 플랫폼 246.2 SR 활용 사례 256.2.1 SR 기반 Visualization 툴 25제 7 장 결론 및 향후 과제 29ABSTRACT 33
최근 본 자료
댓글(0)
0