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이병진 (Byoung J. Lee)

소속기관
인천대학교
소속부서
전자공학과
직급
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ORCID
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연구경력
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주요 연구분야

  • 공학 > 전자/정보통신공학

저자의 논문 현황

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  • 논문수17
  • 발행기간1997 ~ 2010
  • 이용수585
  • 피인용수0

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  • 피인용 논문 제목
    • 피인용 논문 저자
게시판 목록
논문명 저널명 발행연도 이용수 피인용수
Impact of Gate Structure On Hot-carrier-induced Performance Degradation in SOI low Noise Amplifier 전자공학회논문지-IE 2010 60 0
Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하 전자공학회논문지-IE 2008 135 0
RF SOI MOSFETs의 성능저하에 의한 LNA 설계 가이드 라인 전자공학회논문지-IE 2008 86 0
SOI MOSFET’s의 소신호 등가 모델과 변수 추출 전자공학회논문지-IE 2007 54 0
지문 영상의 특징 정보 추출을 위한 효율적인 주름선 추출 방법 전자공학회논문지-IE 2007 53 0
Hot Carrier 현상에 의한 Bulk DTMOS의 RF 성능 저하 전자공학회논문지-SD 2005 66 0
Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상 대한전자공학회 학술대회 2002 17 0
RF-CMOS 소자의 온도에 따른 DC 및 RF 특성 ( Temperature Dependence of DC and RF characteristics of CMOS Devices ) 전자공학회논문지-SD 2000 40 0
Hot electron에 의한 RF-nMOSFET의 DC 및 RF 특성 열화 모델 ( Hot electron induced degradation model of the DC and RF characteristics of RF-nMOSFET ) 전자공학회논문지-D 1998 24 0
GIDL과 SILC가 DRAM refresh 회로의 성능저하에 미치는 영향 ( The effect of GIDL and SILC on the performance degradation of the refresh circuit in DRAM ) 대한전자공학회 학술대회 1998 15 0
GIDL과 SILC가 DRAM refresh 회로의 성능저하에 미치는 영향 대한전자공학회 학술대회 1998 21 0
라인영상 입력을 갖는 영상처리 시스템 설계 ( The Design of A Image Processing System with Line Image Input ) 대한전자공학회 학술대회 1998 5 0
유전 알고리듬을 이용한 이진 트리 분류기의 설계와 냉연 흠 분류에의 적용 ( Design of a Binary Decision Tree using Genetic Algorithm for Recognition of the Defect Patterns of Cold Mill Strip ) 대한전자공학회 학술대회 1998 2 0
DMT ( Discrete Multi-Tone ) 방식을 이용한 ADSL 서비스에서 사용되는 비트 할당 알고리즘에 대한 연구 대한전자공학회 학술대회 1998 2 0
Hot Carrier Induced Performance Degradation of Latch Type Input Buffer in Memory Devices 대한전자공학회 학술대회 1998 1 0
Hot Carrier 현상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터의 성능저하 대한전자공학회 학술대회 1997 4 0
Hot Carrier 형상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터 성능 저하 ( Performance degradation of 0.15mm CMOS Ring Oscillator due to Hot Carrier Effects ) 대한전자공학회 학술대회 1997 0 0