The Mobility Degradation by Hot-Carriers under AC / DC Stress in Very Thin Dielectric MOS Transistor

Yun Sik Jeong ,  Ji Chul Bae ,  Yong Jae Lee

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1995 .01

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

NO기반 게이트절연막 NMOS의 AC Hot Carrier 특성

김윤장 ,  장성근

전기전자재료학회논문지

2004 .01

Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하

이병진 ,  박성욱 ,  박종관

전자공학회논문지-IE

2008 .12

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of PMOSFET Under AC Stress )

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

AC 스트레스에서 Hot Carrier로 인한 PMOSFET의 노쇠화 현상

홍성택 ,  유종근 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot Carrier Effects in Extreme Submicrometer CMOS

Jong Tae Pa ,  k ,  Dae Nam Ha 외 5명

Journal of Electrical Engineering and Information Science

1998 .08

DC 및 AC 스트레스에서 Lateral DMOS 트랜지스터의 소자열화

이인경 ,  윤세레나 ,  유종근 외 1명

전자공학회논문지-SD

2007 .02

A Study on the Hot Carrier Induced High Frequency Performance Degradation in NMOSFET`s

김동욱 ,  김천수 ,  유현규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

열화특성치가 와이블분포를 따르는 경우 두 가지 스트레스 변수를 고려한 가속열화시험의 최적 설계

임헌상 ,  김용수

신뢰성응용연구

2013 .06

Hot - Carrier 에 의한 소자 노쇠화가 아날로그 회로에 미치는 영향 ( A Study on the Effect of Device Degradation induced by Hot - Carrier to Analog Circuits )

유동렬 ,  박종태 ,  김봉렬

전자공학회논문지-A

1994 .12

Potential induced degradation tests for crystalline silicon modules under high voltage stress

배수현 ,  오원욱 ,  강병준 외 5명

한국신·재생에너지학회 학술대회 초록집

2013 .11

양 방향 Hot Carrier 스트레스에 의한 PMOSFET 노쇠화 ( PMOSFET Degradation due to Bidirectional Hot Carrier Stress )

김용탁 ,  김덕기 ,  유종근 외 3명

전자공학회논문지-A

1995 .06

Gate Oxide Thickness Dependence of Hot Carrier Degradation in n- and p-MOSFET's with NO-nitrided Gate Oxide under DC and AC Stresses

金正圭

전기학회논문지

1998 .03

Hot Carrier 현상으로 인한 0.15㎛ CMOS 링오실레이터의 성능저하

윤병오 ,  이병진 ,  김현중 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

가속열화시험에 의한 부품 · 소재 사용수명 예측에 관한 연구

권영일

신뢰성응용연구

2017 .06

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Hot-Carrier에 의한 소자 노쇠화가 차동증폭기 회로에 미치는 영향 ( The Study on the Effect of Device Degradation Induced by Hot-Carrier to Differential Amplifiers )

윤상영 ,  박상욱 ,  이동기 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .07

Degradation function 을 이용한 이미지 복원 기법

송혜원 ,  안세웅 ,  오희석 외 4명

한국통신학회 학술대회논문집

2016 .01