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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
임헌상 (삼성전자) 김용수 (경기대학교)
저널정보
한국신뢰성학회 신뢰성응용연구 신뢰성응용연구 제13권 제2호
발행연도
2013.6
수록면
87 - 98 (12page)

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Accelerated degradation tests (ADTs) measuring failure-related degradation characteristic at the accelerated condition are widely used to assess the reliability of highly reliable products. Often, however, little degradation could be observed even in single-stress ADTs due to the high reliability of test unit, and as a result poor estimate of the reliability may be obtained. ADTs with multiple stress variables can be employed to overcome such difficulties. In this paper, optimal ADT plans with two stress variables are developed assuming that the degradation characteristic follows Weibull distribution by determining the stress levels, the proportion of test units allocated to each stress level such that the asymptotic variance of the maximum likelihood estimator of the q-th quantile of the lifetime distribution at the use condition is minimized.
#Accelerated Degradation #Maximum Likelihood Estimation #Optimal Test Plan #Two Stress Variables #Weibull Distribution

목차

Abstract
1. 서론
2. 모형
3. 계획 문제의 정형화 및 최적화
4. 결론
참고문헌

참고문헌 (17)

참고문헌 신청
2. [학위논문] - 오재연 / 2004 / 두 가지 스트레스 변수를 사용하는 가속열화시험의 최적 설계 : 파괴시험의 경우 / 석사 / 한국과학기술원 google schola 3. [학술지(정기간행물)] - 이낙영 / 1995 / Optimum Design of Accelerated Degradation Tests for Lognormal Distribution / 품질경영학회지 23 (1) : 29 ~ 40 google schola 4. [학술지(정기간행물)] - 최규명 / 1996 / Optimum design of Accelerated Degradation Tests for Weibull Distribution / 품질경영학회지 24 (3) : 37 ~ 49 google schola 5. [학술지(정기간행물)] - Boulanger, M / 1994 / Experimental Design for a Class of Accelerated Degradation Tests / Technometrics 36 : 260 ~ 272 google schola 6. [단행본] - Lawless, J.F / 1982 / Statistical Models and Methods for Life Data / John Wiley & Sons google schola

이 논문의 저자 정보

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