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논문 기본 정보

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저자정보
P. W. Srivastava (University of Delhi) Manisha (University of Delhi) M. L. Agarwal (University of Delhi)
저널정보
한국신뢰성학회 International Journal of Reliability and Applications International Journal of Reliability and Applications 제17권 제1호
발행연도
2016.6
수록면
21 - 49 (29page)

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Many mechanical, electrical and electronic products have more than one performance characteristics (PCs). For example the performance degradation of rubidium discharge lamps can be characterized by the rubidium consumption or the decreasing intensity the lamp. The product may degrade due to all the PCs which may be independent or dependent. This paper deals with the design of optimal bivariate step-stress partially accelerated degradation test (PADT) with degradation paths modelled by gamma process. The dependency between PCs has been modelled through Frank copula function. In partial step-stress loading, the unit is tested at usual stress for some time, and then the stress is accelerated. This helps in preventing over-stressing of the test specimens. Failure occurs when the performance characteristic crosses the critical value the first time. Under the constraint of total experimental cost, the optimal test duration and the optimal number of inspections at each intermediate stress level are obtained using variance optimality criterion.

목차

Abstract
1. INTRODUCTION
2. THE MODEL
3. OPTIMAL TEST PLAN
4. CONFIDENCE INTERVAL
5. NUMERICAL EXAMPLE
6. CONCLUDING REMARKS
REFERENCES

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