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논문 기본 정보

자료유형
학술저널
저자정보
P. W. Srivastava (University of Delhi) Savita (University of Delhi)
저널정보
한국신뢰성학회 International Journal of Reliability and Applications International Journal of Reliability and Applications 제18권 제2호
발행연도
2017.12
수록면
45 - 63 (19page)

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In this paper, we have formulated optimum Accelerated Life Test (ALT) plan for a parallel system with two independent components using masked data with rampstress loading scheme and Type-I censoring. Consider a system of two independent and non-identical components connected in parallel. Such a system fails whenever all of its components has failed .The exact component that causes the system to fail is often unknown due to cost and time constraint. For each parallel system at test, we observe its system"s failure time and a set of component that includes the component actually causing the system to fail. The stress-life relationship is modelled using inverse power law, and cumulative exposure model is assumed to model the effect of changing stress. The optimal plan consists in finding out the optimum stress rate using D-optimality criterion. The method developed has been explained using a numerical example and sensitivity analysis carried out.
#Accelerated Life Test #D-optimality criterion #Fisher information matrix #Masked data #Ramp stress

목차

Abstract
1. INTRODUCTION AND MOTIVATION
2. Reliability PARALLEL STRUCTURE AND ITS RELIABILITY
3. THE MODEL
4. OPTIMUM PLAN
5. A NUMERICAL ILLUSTRATION AND SENSITIVITY ANALYSIS
6. CONCLUSION
REFERENCES

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