Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )

김충기

한국통신학회 학술대회논문집

1988 .01

Submicron 소자를 위한 고속열처리 공정 ( Rapid Thermal Processing for Submicron Devices )

김충기

특정연구 결과 발표회 논문집

1988 .01

A New Model Parameter Extraction Environment for the Submicron Circuit MOS Models

최창훈

KITE JOURNAL OF ELECTRONICS ENGINEERING

1993 .01

Submicron MOS 트랜지스터의 뜨거운 운반자에 의한 노쇠현상 ( Hot-Carrier-Induced Degradation in Submicron MOS Transistors )

최병진 ,  강광남

전자공학회논문지

1988 .07

Submicron MOS Transistor 에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구 ( Hot-Carrier Induced Degradation in Submicron MOS Transistor )

최병진 ,  강광남

대한전자공학회 학술대회

1987 .07

Characterization and Design Consideration of I-MOS Devices

Byung-Gook Pa ,  k ,  Woo Young Choi 외 1명

ITC-CSCC :International Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

2006 .07

Effect of Temperature Gradient on Electron Mobility in Submicron Silicon Devices

홍성준 ,  신형순 ,  이찬호 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

SUBMICRON DEVICE RELIABILITY RESEARCH

Chenming Hu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1989 .01

Submicron에서의 소자 기술 동향

신형순

전자공학회지

1991 .09

Reduction of Breakdown Voltage in I-MOS Devices

Woo Young Choi ,  Jae Young Song ,  Jong Pil Kim 외 4명

대한전자공학회 학술대회

2006 .06

Submicron 이미지 분석을 이용한 수화물 분석방법

문주혁 ,  배성철

콘크리트학회지

2019 .05

Efficient Semi-Empirical I-V Model for Submicron LDD MOS Transistor

L. M. Chua ,  P. C. Liu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

MOS 소자의 특성에 어닐링 방법이 미치는 영향 ( Effects of Annealing Method in MOS Devices Properties )

최원은 ,  장의구 ,  이종인

대한전자공학회 학술대회

1987 .05

Modeling of Subthreshold Current for Submicron LDD MOS Transistor

Ley Mui Chua ,  Po Ching Liu

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1993 .01

Submicron MOSTransistor에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구

최병진 ,  강광남

대한전기학회 학술대회 논문집

1987 .07

Electrical properties and thermal stability of Al/$WN_x$/Ti submicron contact structure

Kim ,  Yong-Tae ,  Sim 외 3명

한국반도체및디스플레이장비학회 학술대회

2002 .01

MOS 구조의 특성

성영권 ,  여권 ,  이상훈

대한전기학회 학술대회 논문집

1986 .07

동작속도가 빠른 Mo2N/Mo 게이트 MOS 집적회로 ( High Speed Mo2N/Mo-Gate MOS Integrated Circuit )

김진섭 ,  이우일 ,  이대우 외 1명

전자공학회지

1985 .07

Submicron Gate Structure의 신뢰성 및 노화현상에 관한 연구 ( Reliability and Degradation Phenomena of Submicron Gate Structure )

강광남 ,  이명복 ,  이정일

한국통신학회 학술대회논문집

1989 .01

Submicron Gate Structure의 신뢰성 및 노화현상에 관한 연구 ( Reliability and Degradation Phenomena of Submicron Gate Structure )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

특정연구 결과 발표회 논문집

1989 .01