Submicron MOS 트랜지스터의 뜨거운 운반자에 의한 노쇠현상 ( Hot-Carrier-Induced Degradation in Submicron MOS Transistors )

최병진; 강광남

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자료유형: 학술저널

저자정보: 최병진 강광남

저널정보: 대한전자공학회 전자공학회논문지 전자공학회논문지 제25권 7호

발행연도: 1988.7

수록면: 780 - 790 (11page)

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1988

Submicron MOS 트랜지스터의 뜨거운 운반자에 의한 노쇠현상 ( Hot-Carrier-Induced Degradation in Submicron MOS Transistors )

최병진 , 강광남 전자공학회논문지 1988.07 학술저널

1987

Submicron MOS Transistor 에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구 ( Hot-Carrier Induced Degradation in Submicron MOS Transistor )

최병진 , 강광남 대한전자공학회 학술대회 1987.07 학술대회자료

Submicron MOSTransistor에서 Hot-Carrier에 의한 열화현상의 연구

최병진 , 강광남 대한전기학회 학술대회 논문집 1987.07 학술대회자료

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강광남

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