Built-In 방식을 이용한 순서논리 회로의 Testable Design ( Testable Design of Sequential circuit using Built-In Test Technique )

정준모 ,  한석붕 ,  이재민 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

Built-In Test 방식을 이용한 Programmable Logic Array의 Testable Design ( Programmable Logic Array Testable Design Using Built-In Test Technique )

김동욱 ,  한석붕 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

Testable Design

홍성제

CAD기술특강

1991 .01

Built-In 자체 테스트 방식을 이용한 PLA 설계 ( A Testable PLA Design Using Built-In Self-Testing Techniques )

이기혁 ,  김유인 ,  신재흥 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

Built-In Test 方式을 利用한 LSI/VLSI Testable Design

金東郁 ,  韓皙䩉 ,  林寅七

대한전자공학회 학술대회

1983 .11

Built-In Self Test 방식에 의한 순서회로의 설계 ( Design of Sequential Circuit Using Built-In Self Test Method )

노승용 ,  임인칠

전자공학회논문지

1987 .09

VLSI Testing and Testable Design

임인칠

CAD기술특강

1989 .01

다중고장 검출이 가능하고 부가회로가 적은 Testable PLA 의 설계 ( A Testable PLA`s Design for Multiple Faults with Low Overhead )

이재민 ,  김은성 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

Built-In 자체 테스트 방식을 이용한 반도체 메모리의 기능 고장 검출 ( Fuctional Testing of Semiconductor Memories using Built-In Self-Testing method )

박경훈 ,  김유인 ,  박상욱 외 4명

대한전자공학회 학술대회

1991 .11

고장 검출이 용이한 대규모 PLA의 설계 ( A Testable Design for Large PLA`s )

한석붕 ,  이철원 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1985 .01

Testable DRAM Design

강성호

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

경계주사 환경에서 Built-In Self-Test 구현을 위한 Built-In Logic Block Observation 설계 ( A Design Of Built-in Logic Block Observer for Realization of Built-In Self-Test in Boundary-Scan Environment )

박은화 ,  조계철 ,  김상국 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출

김익수 ,  이병양 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출 ( Efficient Fault Detection for Video RAMs Using Built-In Self-Testing Techniques )

김익수 ,  이병양 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Delay Testing의 용이성을 고려한 Sequential PLA의 Testable Design ( Testable Design of Sequential PLA ` s Including Delay Testing )

이종철 ,  임인칠

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

디자인 빌드 방식의 프로젝트 관리를 위한 프로세스 개선 모델

김의식 ,  박상준 ,  신창현 외 1명

대한건축학회 학술발표대회 논문집 - 구조계

2004 .10

고장검출 기본 이론과 고장검출 필터의 개념

이은성

제어로봇시스템학회지

2010 .06

일반체계이론을 적용한 선택적 설계시공일괄방식 체계에 관한 연구

김정훈 ,  구교진 ,  현창택

대한건축학회 논문집 - 구조계

2003 .10

100 % 결함 검출 가능한 회로의 합성 ( Synthesis of 100 % Testable Circuits )

이귀상

대한전자공학회 학술대회

1992 .01

오동작 측정이 쉬운 논리회로의 설계방식 연구 ( A Study on Design Method for the Testable Digital Systems )

김용득

전자공학회지

1981 .06