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MTA 코드를 이용한 Testable CAM의 설계 ( Design of Testable CAM Using MTA Code )
대한전자공학회 학술대회
1996 .07
MTA 코드를 적용한 Testable CAM 설계에 관한 연구 ( A Study on the Design of Testable CAM using MTA Code )
전자공학회논문지-C
1998 .06
Testable Design
CAD기술특강
1991 .01
반도체 메모리 테스트에 적합한 코드의 개발에 관한 연구 ( A study on development of code applicable to semiconductor memory testing )
대한전자공학회 학술대회
1994 .07
반도체 메모리 테스트에 적합한 코드의 개발에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1994 .07
VLSI Testing and Testable Design
CAD기술특강
1989 .01
Built-In 방식을 이용한 순서논리 회로의 Testable Design ( Testable Design of Sequential circuit using Built-In Test Technique )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
Testable DRAM Design
대한전자공학회 학술대회
1997 .01
테스트 용이한 논리회로 합성 시스템 개발
대한전자공학회 학술대회
1996 .07
테스트 용이한 논리회로 합성 시스템 개발 ( Development of a synthesis system for testable circuits )
대한전자공학회 토론회
1996 .01
부가회로가 간단한 PLA의 Testable Design ( An Easily Testable Design of PLA`s with Simple Additional Circuits )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
MTA 코드를 이용한 NPSF 검출에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1994 .07
MTA 코드를 이용한 MPSF 검출에 관한 연구 ( A Study on MPSF detection by using MTA code )
대한전자공학회 학술대회
1994 .07
A Fully Testable PLA Design with Minimum Hardware
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1994 .01
다중고장 검출이 가능하고 부가회로가 적은 Testable PLA 의 설계 ( A Testable PLA`s Design for Multiple Faults with Low Overhead )
대한전자공학회 학술대회
1985 .01
A Testable for Wideband Wireless Multimedia Access
대한전자공학회 워크샵
1997 .01
Delay Testing의 용이성을 고려한 Sequential PLA의 Testable Design ( Testable Design of Sequential PLA ` s Including Delay Testing )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
Built-In Test 방식을 이용한 Programmable Logic Array의 Testable Design ( Programmable Logic Array Testable Design Using Built-In Test Technique )
대한전자공학회 학술대회
1984 .01
고장검출이 용이한 Built-in Test 방식의 설계 ( Testable Design on the Built In Test Method )
전자공학회논문지
1987 .05
Testable Design for Domino CMOS Circuits
JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications
1986 .01
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