Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .01

Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하

이병진 ,  박성욱 ,  박종관

전자공학회논문지-IE

2008 .12

System Level ESD Analysis : A Comprehensive Review II on ESD Coupling Analysis Techniques

Jawad Yousaf ,  Hosang Lee ,  Wansoo Nah

Journal of Electrical Engineering & Technology

2018 .09

Effect of ESD Generator on ESD Discharge Waveform and Induced Coupling

Muhammad Faisal ,  Jawad Yousaf ,  Hosang Lee 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

2018 .07

ESD 노이즈 방지 부품 및 회로에 대한 연구

김주용 ,  최준환

대한기계학회 춘추학술대회

2011 .11

Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성 ( Inverse Narrow-Width Effect and Parasitic Diode Generation of MOSFET due to Hot Carrier Effects )

정훈 ,  박상일 ,  정진세 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성

정훈 ,  박상일 ,  정진세 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

ESD 기술 및 연구 동향

김진국

전자파기술

2016 .01

서브마이크론 p-MOSFET에서 스트레스로 유기된 핫 캐리어 효과 ( Stress Induced Hot Carrier Effect in Submicron p-MOSFET ` s )

이용재 ,  Dim Lee Kwong

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

Stack 기술을 이용한 양방향 ESD 방전 경로를 갖는 ESD 보호회로에 관한 연구

우제욱 ,  서정윤 ,  권상욱 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2019 .06

Zener ESD 보호회로 내장 전력 MOSFET 최적 설계

남의석 ,  강이구

전기전자재료학회논문지

2015 .01

New Experimental Technique for Measuring the Hot-Carrier Gate-Current Noise-Spectrum in Short Channel MOSFET's

Adel E. El Hennawy

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

PCB 선로의 ESD 영향 및 측정법에 관한 연구

이관훈 ,  황순미 ,  송병석

한국신뢰성학회 학술대회논문집

2011 .06

p+ 다결정 실리콘 게이트를 갖는 p채널 MOSFET의 hot carrier 효과 ( Hot carrier effects of PMOSFET with p+ polysilicon gate )

홍성희 ,  정성익 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

System Level ESD Analysis : A Comprehensive Review I on ESD Generator Modeling

Jawad Yousaf ,  Hosang Lee ,  Wansoo Nah

Journal of Electrical Engineering & Technology

2018 .09