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Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )
대한전자공학회 학술대회
1987 .11
Hot Carrier Degradation of MOSFETs
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상
대한전자공학회 학술대회
2002 .06
동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과
한국통신학회 학술대회논문집
1994 .07
동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )
한국통신학회 학술대회논문집
1994 .01
Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하
전자공학회논문지-IE
2008 .12
Hot-Carrier 현상을 줄인 새로운 구조의 자기-정렬된 ESD MOSFET의 분석 ( Analysis of a Novel Self-Aligned ESD MOSFET having Reduced Hot-Carrier Effects )
전자공학회논문지-D
1999 .05
서브마이크론 p-MOSFET에서 스트레스로 유기된 핫 캐리어 효과 ( Stress Induced Hot Carrier Effect in Submicron p-MOSFET ` s )
대한전자공학회 학술대회
1992 .11
A Computer Simulation of Suppression of Hot Carrier Degradation in Si MOSFETs Doped by Germanium
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1991 .01
Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성 ( Inverse Narrow-Width Effect and Parasitic Diode Generation of MOSFET due to Hot Carrier Effects )
대한전자공학회 학술대회
1995 .11
Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성
대한전자공학회 학술대회
1995 .12
고전압 및 저전압 NMOSFET 소자의 Hot Carrier 열화 특성
대한전자공학회 학술대회
2008 .11
Hot carrier 스트레스에 의한 LDD n-MOSFET의 열화 특성 파악 및 새로운 Idlin 열화 모델 구현
대한전자공학회 학술대회
2002 .11
Hot Carrier에 의한 MOSFET 노쇠화가 CMOS 차동 증폭기 성능에 미치는 영향 ( A Study on the Impact of Hot Carrier Induced Device Degradation on CMOS Diferential Amp`s Performance )
대한전자공학회 학술대회
1996 .07
p+ 다결정 실리콘 게이트를 갖는 p채널 MOSFET의 hot carrier 효과 ( Hot carrier effects of PMOSFET with p+ polysilicon gate )
대한전자공학회 학술대회
1989 .11
New Experimental Technique for Measuring the Hot-Carrier Gate-Current Noise-Spectrum in Short Channel MOSFET's
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
전력 MOSFET
전기의세계
1985 .05
Inproved AC Hot Carrier Degradation of MOSFET's with Rapid Thermally NO-nitrided Gate Oxide
전기학회논문지
1996 .07
Gate Oxide Thickness Dependence of Hot Carrier Degradation in n- and p-MOSFET's with NO-nitrided Gate Oxide under DC and AC Stresses
전기학회논문지
1998 .03
게이트와 n ̄ 소스/드레인 중첩구조를 갖는 n 채널 MOSFET의 핫캐리어 주입에 의한 열화특성 ( Degradation Characteristics by Hot Carrier Injection of n  ̄ channel MOSFET with Gate - n ̄ S/D Overlapped Structure )
전자공학회논문지-A
1993 .02
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