Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .01

Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하

이병진 ,  박성욱 ,  박종관

전자공학회논문지-IE

2008 .12

Hot-Carrier 현상을 줄인 새로운 구조의 자기-정렬된 ESD MOSFET의 분석 ( Analysis of a Novel Self-Aligned ESD MOSFET having Reduced Hot-Carrier Effects )

김경환 ,  장민우 ,  최우영

전자공학회논문지-D

1999 .05

서브마이크론 p-MOSFET에서 스트레스로 유기된 핫 캐리어 효과 ( Stress Induced Hot Carrier Effect in Submicron p-MOSFET ` s )

이용재 ,  Dim Lee Kwong

대한전자공학회 학술대회

1992 .11

A Computer Simulation of Suppression of Hot Carrier Degradation in Si MOSFETs Doped by Germanium

M. E ,  shov ,  V. Ryzhii

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1991 .01

Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성 ( Inverse Narrow-Width Effect and Parasitic Diode Generation of MOSFET due to Hot Carrier Effects )

정훈 ,  박상일 ,  정진세 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성

정훈 ,  박상일 ,  정진세 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

고전압 및 저전압 NMOSFET 소자의 Hot Carrier 열화 특성

박병석 ,  나민기 ,  한인식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

2008 .11

Hot carrier 스트레스에 의한 LDD n-MOSFET의 열화 특성 파악 및 새로운 I_dlin 열화 모델 구현

한승욱 ,  안창근 ,  도진호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2002 .11

Hot Carrier에 의한 MOSFET 노쇠화가 CMOS 차동 증폭기 성능에 미치는 영향 ( A Study on the Impact of Hot Carrier Induced Device Degradation on CMOS Diferential Amp`s Performance )

박현진 ,  장성준 ,  김형기 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .07

p+ 다결정 실리콘 게이트를 갖는 p채널 MOSFET의 hot carrier 효과 ( Hot carrier effects of PMOSFET with p+ polysilicon gate )

홍성희 ,  정성익 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

New Experimental Technique for Measuring the Hot-Carrier Gate-Current Noise-Spectrum in Short Channel MOSFET's

Adel E. El Hennawy

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

전력 MOSFET

崔然益

전기의세계

1985 .05

Inproved AC Hot Carrier Degradation of MOSFET's with Rapid Thermally NO-nitrided Gate Oxide

金正圭

전기학회논문지

1996 .07

Gate Oxide Thickness Dependence of Hot Carrier Degradation in n- and p-MOSFET's with NO-nitrided Gate Oxide under DC and AC Stresses

金正圭

전기학회논문지

1998 .03

게이트와 n￣ 소스/드레인 중첩구조를 갖는 n 채널 MOSFET의 핫캐리어 주입에 의한 열화특성 ( Degradation Characteristics by Hot Carrier Injection of n ￣ channel MOSFET with Gate - n￣ S/D Overlapped Structure )

이대우 ,  이우일

전자공학회논문지-A

1993 .02