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논문 기본 정보
- 자료유형
- 학술저널
- 저자정보
- 발행연도
- 1993.2
- 수록면
- 121 - 130 (10page)
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전자공학회논문지-SD
2000 .12
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1996 .07
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전력 MOSFET
전기의세계
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2008
.11
양 방향 Hot Carrier 스트레스에 의한 PMOSFET 노쇠화 ( PMOSFET Degradation due to Bidirectional Hot Carrier Stress )
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2016
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MOSFET 게이트-드레인 오버랩 캐패시턴스의 SPICE 모델 파라미터 추출
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