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박막 게이트 산화막의 열화에 의해 나타나는 MOSFET의 특성 변화
대한전자공학회 학술대회
2003 .07
드레인 전압변화 스트레스에 의한 P-MOSFET의 열화 특성 ( Degradation Characteristics of p-MOSFET's by Various Drain Voltage stress )
대한전자공학회 학술대회
1994 .01
나노 기반 MOSFET 디바이스의 통계적 열화모형에 관한 연구
대한산업공학회 추계학술대회 논문집
2006 .11
Gate Oxide Thickness Dependence of Hot Carrier Degradation in n- and p-MOSFET's with NO-nitrided Gate Oxide under DC and AC Stresses
전기학회논문지
1998 .03
게이트와 n ̄ 소스/드레인 중첩구조를 갖는 n 채널 MOSFET의 핫캐리어 주입에 의한 열화특성 ( Degradation Characteristics by Hot Carrier Injection of n  ̄ channel MOSFET with Gate - n ̄ S/D Overlapped Structure )
전자공학회논문지-A
1993 .02
Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상
대한전자공학회 학술대회
2002 .06
동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과
한국통신학회 학술대회논문집
1994 .07
동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )
한국통신학회 학술대회논문집
1994 .01
Hot Carrier Degradation of MOSFETs
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1993 .01
전력 MOSFET
전기의세계
1985 .05
Gate-All-Around SOI MOSFET의 소자열화
전자공학회논문지-SD
2003 .10
서브마이크론 p-MOSFET에서 스트레스로 유기된 핫 캐리어 효과 ( Stress Induced Hot Carrier Effect in Submicron p-MOSFET ` s )
대한전자공학회 학술대회
1992 .11
피-모스 트랜지스터에서 열화에 의한 이동도 변화의 영향 ( The Effects of Mobility Variation based on degradation of p-MOSFET's )
대한전자공학회 학술대회
1994 .11
피-모스 트랜지스터에서 열화에 의한 이동도 변화의 영향
대한전자공학회 학술대회
1994 .11
Dynamic characteristics for Double Gate MOSFET
한국정보통신학회논문지
2005 .12
이중 확산 MOSFET의 C-V특성 ( C-V Characteristics of Double diffused MOSFET )
대한전자공학회 학술대회
1986 .01
이중 확산 MOSFET의 C-V 특성
대한전자공학회 학술대회
1986 .12
전력 MOSFET 소자의 γ선 영향
제어로봇시스템학회 각 지부별 자료집
2004 .11
Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )
대한전자공학회 학술대회
1987 .11
전력 MOSFET
전기의세계
1988 .05
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