피-모스 트랜지스터에서 열화에 의한 이동도 변화의 영향

정연식 ,  이용재

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

피 모스 트랜지스터에 교류 스트레스에 의한 주파수 변화의 열화특성 ( Degradation Characteristics of Frequency Variations by AC Stress at p-MOS Transistor )

정연식 ,  배지철 ,  이용재

대한전자공학회 학술대회

1995 .07

피-모스 트랜지스터에서 교류 스트레스에 의한 주파수 변화의 열화특성

정연식 ,  배지철 ,  이용재

대한전자공학회 학술대회

1995 .06

드레인 전압변화 스트레스에 의한 P-MOSFET의 열화 특성 ( Degradation Characteristics of p-MOSFET's by Various Drain Voltage stress )

정연식 ,  권상수 ,  이용재

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

스트레스에 의한 핫-전자가 유기된 p-MOSFET 의 게이트 산화 막 두께 변화의 열화 ( 열화 ) 의 특성 분석 ( Degradation Characteristics of Hot-Electron-Induced p-MOSFET`s GateOxide Thickness Variations by Stress )

이용재

전자공학회논문지-A

1994 .01

박막 게이트 산화막의 열화에 의해 나타나는 MOSFET의 특성 변화

이재성 ,  이원규

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

짧은 채널 MOSFET에서의 이동도 감쇠 매개 인자 ( Mobility Reduction Parameters in Short Channel MOSFETs )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

나노 기반 MOSFET 디바이스의 통계적 열화모형에 관한 연구

Suk joo Bae ,  Seong-joon Kim

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2006 .11

An RF Power MOSFET Amplifier Design Using a Model Considering 2-D Field-Induced Mobility Degradation

La ,  edj Belabas ,  Nobuo Fujii 외 1명

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1993 .01

MOSFET에서의 정확한 외부 저항과 유효 이동도 추출을 위한 새로운 방법

강덕승 ,  김종수 ,  신형철

대한전자공학회 학술대회

2014 .11

MOSFET 트랜지스터의 CV 측정오차 해석 및 정확도 개선에 관한 연구

이원정 ,  김윤곤 ,  김상기 외 3명

한국정밀공학회 학술발표대회 논문집

2010 .05

핫 캐리어에 유기된 엔-모스 트랜지스터에서 기판전류와 표면 충격이온화의 영향 ( The Influences of Substrate Current and Surface Impact Ionization in Hat-Carrier-Induced at n-MOSFET`s )

배지철 ,  정연식 ,  이용재

한국통신학회 학술대회논문집

1995 .01

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

전력 MOSFET 소자의 γ선 영향

손주형 ,  김재환 ,  노영환

제어로봇시스템학회 각 지부별 자료집

2004 .11

상온에서 짧은 채널 n-MOSFET의 이동도 감쇠 변수 추출에 관한 연구 ( A Study on the Extraction of Mobility Reduction Parameters in Short Channel n-MOSFETs at Room Temperature )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

전자공학회논문지

1989 .09

전력 MOSFET

崔然益

전기의세계

1985 .05

극미세 트랜지스터의 성능과 신뢰성 연구 ( Performance and Reliability Study of Ultra Short Channel MOSFET )

황현상

대한전자공학회 워크샵

1996 .01

미세 트랜지스터에서 핫케리어에 의한 이동도 변화 ( Mobility Variation by Hot-Carrier in Submicron Transistor )

이용재 ,  배지철 ,  안점영

한국통신학회 학술대회논문집

1996 .01

PEMFC에서 막 열화가 전극 열화에 미치는 영향

송진훈 ,  정재진 ,  정재현 외 4명

화학공학

2013 .01

Thermal reliability of long channel MOSFET devices with pinch-off region

Chang Hee Son ,  Chan Byon

대한기계학회 춘추학술대회

2015 .02