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박병석 (충남대학교) 나민기 (충남대학교) 한인식 (충남대학교) 권혁민 (충남대학교) 박상욱 (충남대학교) 임용규 (매그나칩 반도체) 성낙균 (매그나칩 반도체) 김상수 (매그나칩 반도체) 김용국 (매그나칩 반도체) 이희덕 (충남대학교)
저널정보
대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2008년 정기총회 및 추계종합학술대회
발행연도
2008.11
수록면
407 - 408 (2page)

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In this paper, hot carrier degradation of high voltage and low voltage NMOSFETs is analyzed and compared. High voltage MOSFET exhibited greater hot carrie ... 전체 초록 보기

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