Hot carrier 효과에 의한 단채널 금속 게이트/High-k 절연막 nMOSFET의 고주파 특성 열화

사공현철 ,  이경택 ,  최길복 외 7명

대한전자공학회 학술대회

2009 .07

0.1㎛ 레벨 NMOSFET의 Hot Carrier현상과 소자 열화 ( Hot Carrier Induced Device Degradation of 0.1㎛ NMOSFET )

이재기 ,  홍성희

한국통신학회 전문대학 논문지

1997 .01

온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화

원명규 ,  김도형 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화 ( Hot carrier effect of nMOSFET's at elevated temperatures )

원명규 ,  김도형 ,  안철

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

A Study on the Hot Carrier Induced High Frequency Performance Degradation in NMOSFET`s

김동욱 ,  김천수 ,  유현규 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

소자 분야 - Hot carrier에 의한 RF NMOSFET의 성능저하에 관한 연구

김동욱 ,  유종근 ,  유현규 외 1명

전자공학회논문지-D

1998 .10

Hot Carrier Burn-In을 사용한 NMOSFET Lifetime 향상 ( Improvement of NMOSFET Lifetime Using Hot Carrier Burn-In )

이상기 ,  황현상 ,  이동훈 외 3명

대한전자공학회 워크샵

1996 .01

고전압 및 저전압 NMOSFET 소자의 Hot Carrier 열화 특성

박병석 ,  나민기 ,  한인식 외 7명

대한전자공학회 학술대회

2008 .11

Hot-Carrier Degradation Characteristics in Body-Contacted SOI nMOSFETs

Ji Woon Yang ,  Jong Wook Lee ,  Won Chang Lee 외 3명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

NMOSFET에서 핫-캐리어 내성의 소자 개발

김현호 ,  김현기 ,  우경환 외 3명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

Hot electron에 의한 RF-nMOSFET의 DC 및 RF 특성 열화 모델 ( Hot electron induced degradation model of the DC and RF characteristics of RF-nMOSFET )

이병진 ,  홍성희 ,  유종근 외 2명

전자공학회논문지-D

1998 .11

LDD NMOSFET의 Hot-Carrier로 인한 전류열화 특성의 Analytic Model

구정석 ,  김영관 ,  권호엽 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

Metal Plasma-Etching Damages of NMOSFETs with Pure and N₂O Gate Oxides

Jae-Seog Yoon ,  Chang-Wu Hu

한국정보통신학회논문지

1999 .06

STI구조를 갖는 nMOSFET의 채널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구

이성원 ,  신형순

전자공학회논문지-SD

2003 .09

LDD-nMOSFET의 핫 캐리어 열화 억제를 위한 표면 이온주입 효과에 대한 연구

서용진 ,  안태현 ,  김상용 외 3명

대한전기학회 학술대회 논문집

1998 .11

Dielectric Degradation and Breakdown of High-k/Metal Gate Stack nMOSFETs

Do-Young Choi ,  Chang Woo Sohn ,  Hyun Chul Sagong 외 4명

대한전자공학회 학술대회

2012 .06

NMOSFET의 Hot-Carrier 열화현상

백종무 ,  김영춘 ,  조문택

한국산학기술학회 논문지

2009 .12

δ - 도핑 NMOSFET 채널 내에서의 양자화 효과

문현기 ,  김현중 ,  이찬호

대한전자공학회 학술대회

2001 .06

긴 채널 NMOSFET에 대한 통합 전류-전압 ( A Unified Current-Voltage Model for Long Channel NMOSFET's )

박찬광 ,  이창열 ,  이귀로 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1990 .01

서브마이크론 LDD NMOSFET의 핫캐리어 열화에 의한 유효채널길이의 증가

이준표 ,  김재영 ,  강문상 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12