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A Study on the Hot Carrier Induced High Frequency Performance Degradation in NMOSFET`s
대한전자공학회 학술대회
1998 .01
온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화 ( Hot carrier effect of nMOSFET's at elevated temperatures )
대한전자공학회 학술대회
1998 .07
온도 증가에 따른 nMOSFET의 Hot carrier effect 변화
대한전자공학회 학술대회
1998 .06
NMOSFET에서 핫-캐리어 내성의 소자 개발
대한전자공학회 학술대회
2002 .06
소자 분야 - Hot carrier에 의한 RF NMOSFET의 성능저하에 관한 연구
전자공학회논문지-D
1998 .10
Hot carrier 효과에 의한 단채널 금속 게이트/High-k 절연막 nMOSFET의 고주파 특성 열화
대한전자공학회 학술대회
2009 .07
고전압 및 저전압 NMOSFET 소자의 Hot Carrier 열화 특성
대한전자공학회 학술대회
2008 .11
Hot Carrier Burn-In을 사용한 NMOSFET Lifetime 향상 ( Improvement of NMOSFET Lifetime Using Hot Carrier Burn-In )
대한전자공학회 워크샵
1996 .01
Hot-Carrier Degradation Characteristics in Body-Contacted SOI nMOSFETs
ICVC : International Conference on VLSI and CAD
1997 .01
Hot carrier 효과에 의한 단채널 금속 게이트/High-k 절연막 nMOSFET의 고주파 특성 열화
대한전자공학회 학술대회
2009 .07
LDD NMOSFET의 Hot-Carrier로 인한 전류열화 특성의 Analytic Model
대한전자공학회 학술대회
1994 .01
LDD-nMOSFET의 핫 캐리어 열화 억제를 위한 표면 이온주입 효과에 대한 연구
대한전기학회 학술대회 논문집
1998 .11
LDD NMOSFET에서 Hot Carrier 열화시 Device Lifetime에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
Hot Electron에 의한 NMOSFET의 드레인 출력저항 특성 ( The Characteristics of NMOSFET Drain Output Resistance Due to Hot Electron )
대한전자공학회 학술대회
1992 .11
LDD NMOSFET 에서의 Hot-Carrier Trap에 의한 Series Resistance의 증가에 관한 연구 ( A Study on The Increase of Series Resistance Due To Hot-carrier Trap in LDD NMOSFET )
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
LDD NMOSFET에서의 Hot-Carrier Trap에 의한 Series Resistance의 증가에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1996 .11
STI구조를 갖는 nMOSFET의 채널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구
전자공학회논문지-SD
2003 .09
LDD NMOSFET에서 Hot Carrier 열화시 Device Lifetime에 관한 연구
대한전자공학회 학술대회
1997 .11
서브마이크론 LDD NMOSFET의 핫캐리어 열화에 의한 유효채널길이의 증가
대한전자공학회 학술대회
1995 .12
서브마이크론 LDD NMOSFET의 핫캐리어 열화에 의한 유효채널길이의 증가 ( The Increase of the Effective Channel Length by the Hot-Carrier Degradation in Submicron LDD NMOSFETs )
대한전자공학회 학술대회
1995 .11
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