Gate Oxide Thickness Dependence of Hot Carrier Degradation in n- and p-MOSFET's with NO-nitrided Gate Oxide under DC and AC Stresses

金正圭

전기학회논문지

1998 .03

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

게이트와 n￣ 소스/드레인 중첩구조를 갖는 n 채널 MOSFET의 핫캐리어 주입에 의한 열화특성 ( Degradation Characteristics by Hot Carrier Injection of n ￣ channel MOSFET with Gate - n￣ S/D Overlapped Structure )

이대우 ,  이우일

전자공학회논문지-A

1993 .02

p+ 다결정 실리콘 게이트를 갖는 p채널 MOSFET의 hot carrier 효과 ( Hot carrier effects of PMOSFET with p+ polysilicon gate )

홍성희 ,  정성익 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

박막 게이트 산화막의 열화에 의해 나타나는 MOSFET의 특성 변화

이재성 ,  이원규

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .01

동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

NO기반 게이트절연막 NMOS의 AC Hot Carrier 특성

김윤장 ,  장성근

전기전자재료학회논문지

2004 .01

Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하

이병진 ,  박성욱 ,  박종관

전자공학회논문지-IE

2008 .12

New Experimental Technique for Measuring the Hot-Carrier Gate-Current Noise-Spectrum in Short Channel MOSFET's

Adel E. El Hennawy

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot-Carrier 현상을 줄인 새로운 구조의 자기-정렬된 ESD MOSFET의 분석 ( Analysis of a Novel Self-Aligned ESD MOSFET having Reduced Hot-Carrier Effects )

김경환 ,  장민우 ,  최우영

전자공학회논문지-D

1999 .05

MOSFET에서 Gate Oxide층의 교류 절연파괴 특성

박정구 ,  송정우 ,  고시현 외 4명

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .11

Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성 ( Inverse Narrow-Width Effect and Parasitic Diode Generation of MOSFET due to Hot Carrier Effects )

정훈 ,  박상일 ,  정진세 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성

정훈 ,  박상일 ,  정진세 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

Sidewall Spacer와 Post Gate Oxidation에 따른 MOSFET 특성 및 Hot Carrier 신뢰성 연구

이상희 ,  장성근 ,  이선길 외 5명

대한전자공학회 학술대회

1999 .06

스트레스에 의한 핫-전자가 유기된 p-MOSFET 의 게이트 산화 막 두께 변화의 열화 ( 열화 ) 의 특성 분석 ( Degradation Characteristics of Hot-Electron-Induced p-MOSFET`s GateOxide Thickness Variations by Stress )

이용재

전자공학회논문지-A

1994 .01

나노 기반 MOSFET 디바이스의 통계적 열화모형에 관한 연구

Suk joo Bae ,  Seong-joon Kim

대한산업공학회 추계학술대회 논문집

2006 .11