Sidewall Spacer에 따른 소자특성의 신뢰도 연구

남명희 ,  박종찬 ,  김현철 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Sidewall Spacer에 따른 소자특성의 신뢰도 연구 ( A Reliability Study of Device Characteristics due to the Sidewall Spacer )

남명희 ,  박종찬 ,  김현철 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

New Experimental Technique for Measuring the Hot-Carrier Gate-Current Noise-Spectrum in Short Channel MOSFET's

Adel E. El Hennawy

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

비대칭 MOSFET 소자에서 gate oxide의 re-oxidation process의 공정방법 및 효과

김장현 ,  김현우 ,  권민우 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2012 .06

20 ㎚ 급 소자 제작을 위한 sidewall spacer patterning 공정

박일한 ,  이정훈 ,  윤장근 외 8명

대한전자공학회 학술대회

2007 .11

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .01

동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

Hot Carrier Effect of n-MOSFET with Ultrathin Oxides Grown by High Pressure Oxidation and Nitrided in N2O

Tae Moon Roh ,  Dae Woo Lee ,  Jong Dae Kim 외 2명

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1997 .01

p+ 다결정 실리콘 게이트를 갖는 p채널 MOSFET의 hot carrier 효과 ( Hot carrier effects of PMOSFET with p+ polysilicon gate )

홍성희 ,  정성익 ,  박종태

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

Gate Oxide Thickness Dependence of Hot Carrier Degradation in n- and p-MOSFET's with NO-nitrided Gate Oxide under DC and AC Stresses

金正圭

전기학회논문지

1998 .03

Hot-Carrier 현상을 줄인 새로운 구조의 자기-정렬된 ESD MOSFET의 분석 ( Analysis of a Novel Self-Aligned ESD MOSFET having Reduced Hot-Carrier Effects )

김경환 ,  장민우 ,  최우영

전자공학회논문지-D

1999 .05

Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하

이병진 ,  박성욱 ,  박종관

전자공학회논문지-IE

2008 .12

Inproved AC Hot Carrier Degradation of MOSFET's with Rapid Thermally NO-nitrided Gate Oxide

金正圭

전기학회논문지

1996 .07

TRENCH GATE POWER MOSFET의 신뢰성 분석 연구

황준선 ,  구용서 ,  김상기 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2003 .07

게이트와 n￣ 소스/드레인 중첩구조를 갖는 n 채널 MOSFET의 핫캐리어 주입에 의한 열화특성 ( Degradation Characteristics by Hot Carrier Injection of n ￣ channel MOSFET with Gate - n￣ S/D Overlapped Structure )

이대우 ,  이우일

전자공학회논문지-A

1993 .02

Grooved Gate MOSFET의 해석적 모델에 관한 연구

김생환 ,  이창진 ,  홍신남

한국통신학회 학술대회논문집

1991 .11