Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

Electrical and Physical Properties of Ultrathin Reoxidized Nitrided Oxide Grown by Rapid Thermal Processing

박훈수

KITE JOURNAL OF ELECTRONICS ENGINEERING

1990 .01

비대칭 MOSFET 소자에서 gate oxide의 re-oxidation process의 공정방법 및 효과

김장현 ,  김현우 ,  권민우 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2012 .06

동작-스트레스에 의한 p-MOSFET에서 핫-캐리어 효과

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .07

동작-스트레스에 의한 P-Mosfet에서 핫-캐리어 효과 ( Hot-Carrier Effects in P-MOSFET's by on-Stress )

정연식 ,  권상수 ,  임재우 외 1명

한국통신학회 학술대회논문집

1994 .01

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

The Influence of Ion Implantation Damage on the Off-State Leakage Characteristics of n-MOSDETs with Ultrathin Oxide, Nitrided-Oxide and Re-Oxidized Nitrided-Oxide Gate Dielectrics

S. Fleische ,  P. T. Lai ,  Y. C. Cheng

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Sidewall Spacer와 Post Gate Oxidation에 따른 MOSFET 특성 및 Hot Carrier 신뢰성 연구

이상희 ,  장성근 ,  이선길 외 5명

대한전자공학회 학술대회

1999 .06

Hot-Carrier 현상을 줄인 새로운 구조의 자기-정렬된 ESD MOSFET의 분석 ( Analysis of a Novel Self-Aligned ESD MOSFET having Reduced Hot-Carrier Effects )

김경환 ,  장민우 ,  최우영

전자공학회논문지-D

1999 .05

Hot Carrier Stress로 인한 SOI MOSFET의 전력 성능 저하

이병진 ,  박성욱 ,  박종관

전자공학회논문지-IE

2008 .12

Improvement of carrier transport in silicon MOSFETs by using hexagonal boron nitride

Xiaochi Liu ,  Euyheon Hwang ,  Won Jong Yoo

한국표면공학회 학술발표회 초록집

2013 .11

고압산화법으로 성장된 얇은 산화막의 열질화 효과

노태문 ,  이대우 ,  박종문 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

고압산화법으로 성장된 얇은 산화막의 열질화 효과 ( Thermal Nitridation Effects of Ultrathin Oxides Grown By High Pressure Oxidation )

노태문 ,  이대우 ,  박종문 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

Gate Oxide Thickness Dependence of Hot Carrier Degradation in n- and p-MOSFET's with NO-nitrided Gate Oxide under DC and AC Stresses

金正圭

전기학회논문지

1998 .03

Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성 ( Inverse Narrow-Width Effect and Parasitic Diode Generation of MOSFET due to Hot Carrier Effects )

정훈 ,  박상일 ,  정진세 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .11

Hot carrier에 의해 열화된 MOSFET에서 Inverse narrow-width 효과 및 기생 다이오드의 생성

정훈 ,  박상일 ,  정진세 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1995 .12

저압가스질화에서 탄소강의 초기 화합물층 형성 거동

김윤기 ,  김상권

한국표면공학회지

2011 .06

서브마이크론 p-MOSFET에서 스트레스로 유기된 핫 캐리어 효과 ( Stress Induced Hot Carrier Effect in Submicron p-MOSFET ` s )

이용재 ,  Dim Lee Kwong

대한전자공학회 학술대회

1992 .11