LDD N-MOSFET에서 핫-캐리어 열화의 만능곡선에 관한 연구

申泂淳

전기학회논문지

1996 .08

Threshold Voltage due to Stress and Temperature with Hot Carrier Effects for Short Channel LDD n-MOSFETs

Seog Ju Oh

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

Hot-carrier 현상을 이용한 n-MOSFET의 동작수명 측정 ( Measurement of n-MOSFETs Lifetime using Hot-carrier induced Degradation )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1987 .11

LDD MOSFET의 최적화에 관한 연구 ( Study on the Optimization of LDD MOSFET )

김달수 ,  박영준

전자공학회논문지

1987 .05

핫 캐리어 신뢰성 개선을 위한 새로운 LDD 구조에 대한 연구

장의구 ,  서용진 ,  김상용 외 1명

전기전자재료학회논문지

2002 .01

Hot-carrier 효과로 인한 MOSFET의 성능저하 및 동작수명 측정 ( Hot-carrier Induced MOSFET Degradation and its Lifetime Measurement )

김천수 ,  김광수 ,  김여환 외 2명

전자공학회논문지

1988 .02

n-불순물 농도에 따른 N-채널 LDD 트랜지스터의 노쇠현상 ( n-Doping Density Dependent Hot-Carrier Degradation in N-Channel LDD MOSFET's )

박재관 ,  김경태 ,  신윤승

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

LDD MOSFET의 누설전류에 관한 연구 ( A Study on the Leakage Current of LDD MOSFET )

이상목 ,  윤현민 ,  노영준

한국통신학회 전문대학 논문지

1995 .01

Hot carrier에 의한 GAA MOSFET의 열화현상

최락종 ,  이병진 ,  장성준 외 2명

대한전자공학회 학술대회

2002 .06

LDD NMOSFET에서 Hot Carrier 열화시 Device Lifetime에 관한 연구

고정욱 ,  김재영 ,  강문상 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

LDD MOSFET 채널 전계의 특성 해석

韓民九 ,  朴珉亨

전기학회논문지

1989 .06

LDD 방식에 의한 Short Channel MOSFET에 관한 연구 ( A Study on Short Channel MOSFET by the LDD Technology )

권상직 ,  이진호 ,  강영일 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

LDD MOSFET의 기생저항에 대한 간단한 모형 ( A Simple Model for Parasitic Resistances of LDD MOSFETS )

이정일 ,  윤경식 ,  이명복 외 1명

전자공학회논문지

1990 .11

LDD NMOSFET의 Hot-Carrier로 인한 전류열화 특성의 Analytic Model

구정석 ,  김영관 ,  권호엽 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1994 .01

N-MOSFET의 N-LDD 이온주입에 따른 역단채널효과 ( Effects of N-LDD Implantation on Reverse Short-Channel Behavior in n-MOSFET`s )

손정환 ,  허기재 ,  김진구 외 2명

대한전자공학회 워크샵

1996 .01

Hot Electron Degradation via Hot Hole Injection in Submicron Buried-Channel LDD P-MOSFET`s

Hyung J. Lee ,  Gyu Han Yoon ,  Lee Yeun Hwang

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1995 .01

n-MOSFET LDD 구조의 정전기 방전 시뮬레이션 ( Electrostatic Discharge Simulation in LDD n-MOSFET )

차영호 ,  권태하 ,  최혁환

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

LDD NMOSFET에서 Hot Carrier 열화시 Device Lifetime에 관한 연구

고정욱 ,  김재영 ,  강문상 외 2명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

LDD MOSFET 채널 특성해석

박민형 ,  한민구

대한전기학회 학술대회 논문집

1988 .11