LDD MOSFET의 최적화에 관한 연구 ( Study on the Optimization of LDD MOSFET )

김달수 ,  박영준

전자공학회논문지

1987 .05

LDD MOSFET의 누설전류에 관한 연구 ( A Study on the Leakage Current of LDD MOSFET )

이상목 ,  윤현민 ,  노영준

한국통신학회 전문대학 논문지

1995 .01

LDD MOSFET 채널 전계의 특성 해석

韓民九 ,  朴珉亨

전기학회논문지

1989 .06

LDD 방식에 의한 Short Channel MOSFET에 관한 연구 ( A Study on Short Channel MOSFET by the LDD Technology )

권상직 ,  이진호 ,  강영일 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

LDD MOSFET의 기생저항에 대한 간단한 모형 ( A Simple Model for Parasitic Resistances of LDD MOSFETS )

이정일 ,  윤경식 ,  이명복 외 1명

전자공학회논문지

1990 .11

N-MOSFET의 N-LDD 이온주입에 따른 역단채널효과 ( Effects of N-LDD Implantation on Reverse Short-Channel Behavior in n-MOSFET`s )

손정환 ,  허기재 ,  김진구 외 2명

대한전자공학회 워크샵

1996 .01

n-MOSFET LDD 구조의 정전기 방전 시뮬레이션 ( Electrostatic Discharge Simulation in LDD n-MOSFET )

차영호 ,  권태하 ,  최혁환

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

LDD MOSFET 채널 특성해석

박민형 ,  한민구

대한전기학회 학술대회 논문집

1988 .11

Hot carrier 스트레스에 의한 LDD n-MOSFET의 열화 특성 파악 및 새로운 I_dlin 열화 모델 구현

한승욱 ,  안창근 ,  도진호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2002 .11

핫 캐리어 신뢰성 개선을 위한 새로운 LDD 구조에 대한 연구

장의구 ,  서용진 ,  김상용 외 1명

전기전자재료학회논문지

2002 .01

Threshold Voltage due to Stress and Temperature with Hot Carrier Effects for Short Channel LDD n-MOSFETs

Seog Ju Oh

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

n-불순물 농도에 따른 N-채널 LDD 트랜지스터의 노쇠현상 ( n-Doping Density Dependent Hot-Carrier Degradation in N-Channel LDD MOSFET's )

박재관 ,  김경태 ,  신윤승

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

VLSI CMOS 소자를 위한 LDD N-Mosfet ( LDD N-MOSFET for VLSI CMOS Devices )

김광수 ,  김보우 ,  이진효

대한전자공학회 학술대회

1986 .01

짧은 채널 LDD MOSFETS에서 게이트 전압에 의존하는 기생 저항 ( GATE-VOLTAGE DEPENDENT PARASITIC RESISTANCE IN SHORT CHANNEL LIGHTLY DOPED DRAIN ( LDD ) MOSFETS )

강광남 ,  김동명 ,  이명복 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

Device Reliability of LDD MOSFET with Nitride Spacer

최준호 ,  변중혁 ,  박종성 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

Determination of the Gate-Voltage-Dependent Series Resistance of LDD MOSFET`s

Choong Won Kim ,  Kenji Taniguchi ,  Biak Hyung Han

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

LDD 공정 조건에 따른 펀치쓰루 및 핫 캐리어 효과에 관한 연구

안태현 ,  김남훈 ,  김창일 외 2명

대한전기학회 학술대회 논문집

1998 .07

LDD 소자 최적화의 실험적 고찰 ( An Experimental Investigation of LDD Device Optimization )

강대관 ,  김달수 ,  김현철 외 1명

전자공학회논문지

1990 .03

DC 스트레스에 의해 노쇠화된 LDD MOSFET에서 문턱전압과 Subthreshold 전류곡선의 변화 ( The Shift of Threshold Voltage and Subthreshold Current Curve in LDD MOSFET Degraded Under Different DC Stress-Biases )

이명복 ,  이정일 ,  강광남

전자공학회논문지

1989 .05

Hot Electron Degradation via Hot Hole Injection in Submicron Buried-Channel LDD P-MOSFET`s

Hyung J. Lee ,  Gyu Han Yoon ,  Lee Yeun Hwang

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1995 .01