TEMPERATURE DEPENDENCE OF THRESHOLD VOLTAGE FOR SUBMICRON P-AND N-CHANNEL LDD MOSFET DEVICES

Seog-Ju Oh

ICEIC : International Conference on Electronics, Informations and Communications

1993 .08

Hot Electron에 의한 LDD NMOS의 노쇠화 메커니즘 ( Hot Electron Induced the Degradation Mechanism of Ldd NMOSFET )

김덕기 ,  박현진 ,  김용택 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

LDD N-MOSFET에서 핫-캐리어 열화의 만능곡선에 관한 연구

申泂淳

전기학회논문지

1996 .08

Temperature Dependence of Threshold Voltage for Submicron P- and N- Channel LDD MOSFET Devices

Seog Ju Oh

International Conference on Electronics, Informations and Communications

1993 .01

Threshold Voltage due to Stress and Temperature with Hot Carrier Effects for Short Channel LDD n-MOSFETs

Seog Ju Oh

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

Hot Electron에 의한 LDD NMOS의 노쇠화 메카니즘

김덕기 ,  박현진 ,  김용택 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

LDD 방식에 의한 Short Channel MOSFET에 관한 연구 ( A Study on Short Channel MOSFET by the LDD Technology )

권상직 ,  이진호 ,  강영일 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

핫 캐리어 신뢰성 개선을 위한 새로운 LDD 구조에 대한 연구

장의구 ,  서용진 ,  김상용 외 1명

전기전자재료학회논문지

2002 .01

LDD MOSFET의 최적화에 관한 연구 ( Study on the Optimization of LDD MOSFET )

김달수 ,  박영준

전자공학회논문지

1987 .05

n-불순물 농도에 따른 N-채널 LDD 트랜지스터의 노쇠현상 ( n-Doping Density Dependent Hot-Carrier Degradation in N-Channel LDD MOSFET's )

박재관 ,  김경태 ,  신윤승

대한전자공학회 학술대회

1989 .01

Hot Carrier Degradation of MOSFETs

Hisao Katto

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01

LDD MOSFET 채널 전계의 특성 해석

韓民九 ,  朴珉亨

전기학회논문지

1989 .06

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구 ( A Study of Hot-Carrier Degradation on Submicron Device )

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .07

Submicron Device에서의 Hot-Carrier 열화에 관한 연구

이용희 ,  김현호 ,  최영규 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .06

LDD MOSFET의 누설전류에 관한 연구 ( A Study on the Leakage Current of LDD MOSFET )

이상목 ,  윤현민 ,  노영준

한국통신학회 전문대학 논문지

1995 .01

N-MOSFET의 N-LDD 이온주입에 따른 역단채널효과 ( Effects of N-LDD Implantation on Reverse Short-Channel Behavior in n-MOSFET`s )

손정환 ,  허기재 ,  김진구 외 2명

대한전자공학회 워크샵

1996 .01

Time Dependent Hot-Carrier-Induced Interface State Generation in Deep Submicron LDD NMOSFETs

김시호 ,  이귀로

대한전자공학회 학술대회

1995 .01

Hot carrier 스트레스에 의한 LDD n-MOSFET의 열화 특성 파악 및 새로운 I_dlin 열화 모델 구현

한승욱 ,  안창근 ,  도진호 외 1명

대한전자공학회 학술대회

2002 .11

LDD MOSFET의 기생저항에 대한 간단한 모형 ( A Simple Model for Parasitic Resistances of LDD MOSFETS )

이정일 ,  윤경식 ,  이명복 외 1명

전자공학회논문지

1990 .11

LDD MOSFET 채널 특성해석

박민형 ,  한민구

대한전기학회 학술대회 논문집

1988 .11