Temperature Dependence of Threshold Voltage for Submicron P- and N- Channel LDD MOSFET Devices

Seog Ju Oh

International Conference on Electronics, Informations and Communications

1993 .01

Threshold Voltage due to Stress and Temperature with Hot Carrier Effects for Short Channel LDD n-MOSFETs

Seog Ju Oh

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

LDD 방식에 의한 Short Channel MOSFET에 관한 연구 ( A Study on Short Channel MOSFET by the LDD Technology )

권상직 ,  이진호 ,  강영일 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1984 .01

LDD MOSFET의 최적화에 관한 연구 ( Study on the Optimization of LDD MOSFET )

김달수 ,  박영준

전자공학회논문지

1987 .05

LDD MOSFET 채널 전계의 특성 해석

韓民九 ,  朴珉亨

전기학회논문지

1989 .06

N-Channel MOSFET에 있어서 Threshold Voltage의 특성 ( Characteristics of the Threshold Voltage in a N-Channel MOSFET )

유종선 ,  강진영 ,  이만구 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1982 .01

LDD MOSFET의 누설전류에 관한 연구 ( A Study on the Leakage Current of LDD MOSFET )

이상목 ,  윤현민 ,  노영준

한국통신학회 전문대학 논문지

1995 .01

N-MOSFET의 N-LDD 이온주입에 따른 역단채널효과 ( Effects of N-LDD Implantation on Reverse Short-Channel Behavior in n-MOSFET`s )

손정환 ,  허기재 ,  김진구 외 2명

대한전자공학회 워크샵

1996 .01

LDD MOSFET의 기생저항에 대한 간단한 모형 ( A Simple Model for Parasitic Resistances of LDD MOSFETS )

이정일 ,  윤경식 ,  이명복 외 1명

전자공학회논문지

1990 .11

Hot Electron Degradation via Hot Hole Injection in Submicron Buried-Channel LDD P-MOSFET`s

Hyung J. Lee ,  Gyu Han Yoon ,  Lee Yeun Hwang

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1995 .01

LDD MOSFET 채널 특성해석

박민형 ,  한민구

대한전기학회 학술대회 논문집

1988 .11

n-MOSFET LDD 구조의 정전기 방전 시뮬레이션 ( Electrostatic Discharge Simulation in LDD n-MOSFET )

차영호 ,  권태하 ,  최혁환

대한전자공학회 학술대회

1997 .01

Determination of the Gate-Voltage-Dependent Series Resistance of LDD MOSFET`s

Choong Won Kim ,  Kenji Taniguchi ,  Biak Hyung Han

JTC-CSCC : Joint Technical Conference on Circuits Systems, Computers and Communications

1994 .01

짧은 채널 LDD MOSFETS에서 게이트 전압에 의존하는 기생 저항 ( GATE-VOLTAGE DEPENDENT PARASITIC RESISTANCE IN SHORT CHANNEL LIGHTLY DOPED DRAIN ( LDD ) MOSFETS )

강광남 ,  김동명 ,  이명복 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1989 .11

Device Reliability of LDD MOSFET with Nitride Spacer

최준호 ,  변중혁 ,  박종성 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

LDD N-MOSFET에서 핫-캐리어 열화의 만능곡선에 관한 연구

申泂淳

전기학회논문지

1996 .08

Gate Length Dependence of LDD-to-Gate Overlap in n-MOSFET

허기재 ,  손정환 ,  송현욱 외 3명

대한전자공학회 학술대회

1998 .01

Analytic Threshold Voltage Model of Recessed Channel MOSFETs

Yongmin Kwon ,  Yeonsung Kang ,  Sanghoon Lee 외 3명

JOURNAL OF SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY AND SCIENCE

2010 .03

LDD 소자 최적화의 실험적 고찰 ( An Experimental Investigation of LDD Device Optimization )

강대관 ,  김달수 ,  김현철 외 1명

전자공학회논문지

1990 .03

Efficient Semi-Empirical I-V Model for Submicron LDD MOS Transistor

L. M. Chua ,  P. C. Liu

ICVC : International Conference on VLSI and CAD

1993 .01