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본 논문은 메모리 집적도의 증가로 인해 많이 발생하는 이웃 패턴 감응 고장에 대한 효율적인 테스팅 방법을 제안하고 있다. 기존의 테스팅 방법에서는 비트 단위의 순차적인 셀 어레이 접근으로 인해 결함 검출율과 테스팅 시간에 있어서 문제를 가지고 있다. 이러한 문제들을 본 논문에서는 이웃 패턴 ... 전체 초록 보기

목차

요약

1. 서론

2. 관련 연구

3. 제안된 방법

4. 성능 향상

5. 결과 및 향후 계획

참고문헌

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