내장된 자체 테스트 기법을 이용한 이웃 패턴 감응 고장 진단 ( Neighborhood Pattern Sensitive Fault Diagnosis Using Built - In Self Test )

양명훈 ,  이종철 ,  강용석 외 1명

대한전자공학회 학술대회

1997 .11

Content Addressable Memory의 이웃패턴감응고장 테스트를 위한 내장된 자체 테스트 기법 ( Built-In Self Test for Testing Neighborhood Pattern Sensitive Faults in Content Addressable Memories )

강용석 ,  이종철 ,  강성호

전자공학회논문지-C

1998 .08

이웃 패턴 감응 고장의 검출을 위한 효율적인 메모리 검사 알고리듬 ( An Efficient RAM Testing Algorithm for Detection Neighborhood Pattern Sensitive Faults )

이종철 ,  강용석 ,  강성호

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

이웃 패턴 감응 고장의 검출을 위한 효응적인 메모리 검사 알고리듬

이종철 ,  강용석 ,  강성호

대한전자공학회 학술대회

1996 .11

고장 패턴을 이용한 시스템의 고장진단

이진하 ,  라경택 ,  이영석 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

1999 .07

A New Test Algorithm for Bit-Line Sensitive Faults in High-Density Memories

Kang ,  Dong-Chual ,  Cho 외 1명

전기전자학회논문지

2001 .07

고속 고장 진단을 위해 고장 후보 정렬과 테스트 패턴 정렬을 이용한 고장 탈락 방법

이주환 ,  임요섭 ,  김홍식 외 1명

전자공학회논문지-SD

2009 .03

대용량 메모리의 이웃 패턴 감응 고장의 효율적 테스팅을 위한 메모리 구조

김주엽 ,  홍성제 ,  김종

한국정보과학회 학술발표논문집

2004 .10

이웃 패턴 감응 고장을 위한 효과적인 메모리 테스트 알고리듬

서일석 ,  강용석 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2002 .11

고장진단 알고리즘 개발

서규석 ,  옥치연 ,  백영식 외 1명

대한전기학회 학술대회 논문집

2003 .11

독립고장과 양립 가능한 고장을 이용한 효율적인 테스트 패턴 압축 기법 ( An Efficient Algorithm for Test Pattern Compaction using Independent Faults and Compatible Faults )

윤도현 ,  강성호 ,  민형복

전자공학회논문지-SD

2001 .02

분류패턴과 신경망을 이용한 시스템의 고장진단

李鎭河 ,  朴省昱 ,  徐輔焃

전기학회논문지 D

2000 .12

고장진단을 위한 새로운 신호분석기법

최연선

한국소음진동공학회 강습회자료집

2007 .03

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출 ( Efficient Fault Detection for Video RAMs Using Built-In Self-Testing Techniques )

김익수 ,  이병양 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

Built-In 자체 테스트 기법을 이용한 비디오램의 효율적인 고장 검출

김익수 ,  이병양 ,  이광훈 외 8명

대한전자공학회 학술대회

1994 .11

수정된 의사 무작위 패턴을 이용한 효율적인 로직 내장 자체 테스트에 관한 연구

이정민 ,  장훈

전자공학회논문지-SD

2006 .08

내장된 자체 테스트에서 경로 지연 고장 테스트를 위한 새로운 가중치 계산 알고리듬 ( New Weight Generation Algorithm for Path Delay Fault Test Using BIST )

허윤 ,  강성호

전자공학회논문지-SD

2000 .06

내장된 메모리를 위한 메모리 테스트 알고리듬의 설계 및 구현

박강민 ,  최인여 ,  양선웅 외 2명

한국정보과학회 학술발표논문집

1997 .04

An Efficient Built-In Self-Test Algorithm for Neighborhood Pattern- and Bit-Line-Sensitive Faults in High-Density Memories

Dong -Chual Kang ,  Sung Min Pa ,  k 외 1명

[ETRI] ETRI Journal

2004 .12

복합시스템 다중고장진단 기법

배용환

제어로봇시스템학회 국내학술대회 논문집

1997 .10