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칩의 집적도에 비례한 테스트 문제의 원초적인 해결은 VHDL등으로 기술되는 상위기능 수준에서부터 고려되어야 한다. 본 논문에서는 상위수준의 기능정보에서 테스트점을 삽입하여 제어흐름(control flow)을 변경하여 고집적 회로의 고장점검도를 증진시키는 기술을 소개한 ... 전체 초록 보기

목차

요약

1. 개요

2. 테스트점 삽입에 따른 조정가능도 산출

3. 다양한 종류의 테스트점 삽입

4. 랜덤패턴에 의한 조정도 산출방법

5. 실험결과

6. 결론 및 향후 연구 계획

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