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이 논문의 연구 히스토리 (2)

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Scanning Thermal Microscope (SThM) is the tool that can image temperature and thermal property distribution with the highest spatial resolution. Until now the SThM probe fabricated by Shi et al. has been reported to have the highest spatial resolution and the best sensitivity. They demonstrated that the spatial resolution of this probe is less than 100 ㎚ by mapping out the temperature distribution. And we reported the 2ω imaging technique that can map out the local thermal property distribution using a similar SThM probe. But the design of these SThM probes still has much room for sensitivity improvement. In order to improve the sensitivity, we fabricated the full silicon dioxide SThM probe, heightened the tip up to 12 ㎛ and designed the reflector of the probe so that the heating of the thermocouple junction by feedback laser is minimized. The sensitivity of this SThM probe was about 2 times higher than that of the previous one. And the influence of the feedback laser was negligible.

목차

Abstract
1. 서론 및 연구 배경
2. 열적설계
3. 탐침 제작 공정
4. 열전 탐침의 성능 및 특성 실험
5. 결론
6. 후기
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