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대한전자공학회 전자공학회논문지-SD 電子工學會論文誌 SD編 第45卷 第2號
발행연도
2008.2
수록면
21 - 27 (7page)

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본 논문에서는 CMOS 0.18-μm 공정을 이용한 16:1 바이너리-트리 멀티플렉서 (MUX)를 기술한다. 본 MUX는 넓은 동작속도 범위와 공정-온도 변화에서도 둔감하게 동작할 수 있도록 여러 딜레이 보상 기법들을 적용하였다. 제안하는 MUX는 넓은 동작속도 범위와 공정-온도 변화에서도 셋업 마진과 홀드 마진이 최적 값인 0.5UI를 약 0.05UI의 표준편차 내에서 유지할 수 있음을 모의실험을 통하여 확인하였다. 이러한 결과는 CMOS 로직 회로의 특성이 민감하게 변화함에도 불구하고 제안된 딜레이 보상 기법이 효과적으로 적용되었으며, 따라서 회로의 신뢰성이 매우 향상되었음을 나타낸다. 본 MUX는 0.18-μm CMOS 공정을 이용하여 제작되었으며, 테스트 보드로 검증되었다. 전원 전압이 1.8-V인 환경에서, MUX의 최대 data-rate과 면적은 각각 1.65-Gb/s와 0.858 ㎟이고, 24.12 mW의 전력을 소모하며, 출력 eye opening은 1.65-Gb/s의 동작 환경에서 272.53 mV, 266.55 ps으로 측정되었다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 제안하는 16:1 바이너리-트리 MUX
Ⅲ. MUX 셀 설계
Ⅳ. 모의실험 및 실험결과
Ⅴ. 결론
참고문헌
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