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대한전자공학회 전자공학회논문지-SC 電子工學會論文誌 第45卷 SC編 第3號
발행연도
2008.5
수록면
42 - 50 (9page)

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본 논문은 다양한 제품의 불량 검사를 위한 비전 검사시스템을 개발하였다. 대부분의 기존 검사 시스템은 하나의 제품에 대하여 검사가 가능하도록 설계되었다. 그래서 동일한 검사시스템에서 다른 제품을 검사하기 위해서는 비용과 시간을 들여 시스템을 업데이트하거나 교체를 해야 했다. 본 논문에서는 추가적인 작업이 없어도 적은 비용으로 다양한 제품을 검사할 수 있는 유연한 검사시스템을 제안하였다. 이를 위해 사용하기 편리한 사용자 인터페이스와 특별한 변경 없어도 다양한 제품에 적용 가능한 영상처리 알고리즘을 제안하였다. 제안한 알고리즘은 히스토그램의 형태에 따라 제한된 범위 내에서 임계값을 변경 하면서 정상제품 이미지와 불량제품 샘플 이미지간의 상관계수를 구하고 구한 상관계수에서 가장 작은 것을 해당 제품의 검사에 사용할 임계값으로 결정한다. 시스템을 검증하기 위해 핸드폰 케이스 불량 검사에 적용하여 Otsu의 방법과 비교하였다.

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 시스템의 개요
Ⅲ. 동적 비쥬얼 프로그래밍 환경
Ⅳ. 영상처리 알고리즘
Ⅴ. 휴대폰 케이스의 불량검출
Ⅵ. 결론
감사의 글
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