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대한전자공학회 전자공학회논문지-SC 電子工學會論文誌 第46卷 SC編 第4號
발행연도
2009.7
수록면
58 - 63 (6page)

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각종 전자 제품 및 부품의 외관 검사는 인간의 시력에 의해 이루어졌다. 외관 검사는 LCD Panel, flexible PCB 및 다른 여러 가지 전자부품에 적용되어진다. 전자 제품의 외관검사를 사람의 시력에 의존할 경우 작고 미세한 전자 제품은 검사자의 신체와 정신에 따라 검사 결과가 변화하기 때문에 안정적인 결과를 기대 할 수 없다. 머신비전 시스템은 이러한 문제가 발생되지 않는다. 따라서 머신 비전 시스템은 현제 여러 외관 검사 분야에서 사용되어지고 있다. 하지만 머신 비전 시스템에 의한 자동 검사는 작업장의 조명에 의한 영향을 많이 받는다. 본 논문에서는 이러한 영향을 극복하기 위한 방법으로 히스토그램변환을 이용한 머신비전 검사의 정확성 향상 방법을 제안한다.
#Histogram transformation #Illumination #Accuracy #Inspection

목차

요약
Abstract
Ⅰ. 서론
Ⅱ. 에지 기반 검사 방법
Ⅲ. 리모컨 외관 검사 시스템
Ⅳ. 제안하는 외관 검사 방법
Ⅴ. 실험
Ⅵ. 결론
참고문헌
저자소개

참고문헌 (11)

참고문헌 신청
1. [학위논문] - 엄주진 / 2003 / 머신 비전을 이용한 ALC 블록 생산 공정의 자동 검사 시스템 개발 / 석사 / 단국대학교 google schola 2. [기타자료] - Randy Crane / / A Simplified Approach To Image Processing : 85 ~ 184 google schola 3. [단행본] - Tamal Bose / 2003 / Digital Signal and Image Processing / John Wiley & Sons : 599 ~ 612 google schola 4. [기타자료] - Maria Petrou / / Image Processing : 265 ~ 282 google schola 5. [학술지(정기간행물)] - Weng, J / 1992 / Camera Calibration with Distortion Models and Accuracy Evaluation / IEEE Transactions on Pattern Analysis and Machine Intelligence 14 (10) : 965 ~ 980 google schola

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