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In order to assess the reliability of the electronics control unit for vehicles, accelerated life test model and procedure are developed. By using this method, failure mechanism and life distribution are analyzed. The main results are as follows : ⅰ) the main failure mechanism is degradation failure that is, junction destruction of a semiconductor resin by high temperature. ⅱ) the life distribution of the electronics control unit for vehicles is fitted well to Weibull life distribution and the accelerated life model of that is fitted well to Arrhenius model. ⅲ) at the result of the life distribution, accelerated life test method is developed, and test time for life assessment will be shortened by 5,000 hours by this test method.
목차
Abstract
1. 서론
2. 가속 수명 시험 설계 및 시험 방법
3. 가속 수명 시험 결과 및 해석
4. 결론
감사의 글
참고문헌
저자소개
참고문헌 (7)
참고문헌 신청
1. [단행본] - S.J. Oh / 2006 / Life Assesment of the Automotive Electronics Virtual Qualification / The Graduate School of Hanyang University
2. [기타자료] - / 1980 / ]“A Review of Equipment Aging Theory and Technology,” EPRI, NP-1558, 1980
3. [기타자료] - / 1995 / Department of Defense, MIL-HDBK-217 FN2, DOD, 1995
4. [학술지(정기간행물)] - E. Suhir / 2002 / Accelerated Life Testing (ALT) in Microelectronics and Photonics : Its Role, Attributes, Challenges, Pitfalls, and Interaction With Qualification Tests / Journal of Electronic Packaging 124 (11) : 281 ~ 291
5. [기타자료] - GM / 2004 / “General Specification for Electrical/ Electronic Component,” GMW3172, pp.49, 2004
2. [기타자료] - / 1980 / ]“A Review of Equipment Aging Theory and Technology,” EPRI, NP-1558, 1980
3. [기타자료] - / 1995 / Department of Defense, MIL-HDBK-217 FN2, DOD, 1995
4. [학술지(정기간행물)] - E. Suhir / 2002 / Accelerated Life Testing (ALT) in Microelectronics and Photonics : Its Role, Attributes, Challenges, Pitfalls, and Interaction With Qualification Tests / Journal of Electronic Packaging 124 (11) : 281 ~ 291
5. [기타자료] - GM / 2004 / “General Specification for Electrical/ Electronic Component,” GMW3172, pp.49, 2004
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