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논문 기본 정보

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학술대회자료
저자정보
최현창 (동명정보대학교) 박준협 (삼성종합기술원)
저널정보
대한기계학회 대한기계학회 춘추학술대회 대한기계학회 2002년도 제1회 재료 및 파괴부문 학술대회 논문집
발행연도
2002.3
수록면
289 - 294 (6page)

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The mean stresses of the single and multi-stacked film are experimentally investigated. After stacking several layers on a wafer, we measure the curvature on the wafer. Followed by peeling each layer stacked, we measure the curvature on the wafer, again. Mean residual stresses are calculated from radiuses of the curvatures using the Stoney's equation. Microcantilever beams is constructed by removing substrate and the deflection at the end of a beam is measured. Finite element method for determining residual stress distribution in multi-stacked films with a multi-step doping process is studied for use in micromachining applications. We propose a finite element program for residual stress analysis (RESA) in multi-stacked polysilicon film. The distribution of residual stress field in multi-stacked films is predicted using RESA. And it is established for the prediction method determining the deflection in a cantilever beam using finite element method(FEM).

목차

Abstract
1. 서론
2. 박막제작 및 잔류응력 측정
3. 외팔보 구조물 제작
4. 유한 요소 프로그램
5. 잔류응력계산
6. 외팔보 처짐 예측
결론
참고문헌

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