공정 변화에 따른 마그네틱 램에서의 센싱 이득 경향

송지환; 김지수; 정성욱

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자료유형: 학술대회자료

저자정보: 송지환 (연세대학교) 김지수 (연세대학교) 정성욱 (연세대학교)

저널정보: 대한전자공학회 대한전자공학회 학술대회 대한전자공학회 2008년 정기총회 및 추계종합학술대회

발행연도: 2008.11

수록면: 537 - 538 (2page)

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Process technology has scaled down to nano scale, and a number of research about the trend of technology scaling are progressed in circuit level. Magnetic Randon Access Memory(MRAM) is also affected by this trend, especially sensing margin is reduced in the MRAM s ... 전체 초록 보기

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송지환

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주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전자공학

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김지수

소속기관 한국원자력통제기술원

주요연구분야 공학 > 기계공학 > 기계공학 일반 TOP 5% 공학 > 기계공학 > 항공우주공학

논문수 178 이용수 10,279

정성욱

소속기관 한국전자통신연구원

주요연구분야 공학 > 전기전자공학 > 전자공학 TOP 1% 공학 > 전기전자공학 > 정보통신공학

논문수 81 이용수 4,823

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UCI(KEPA) : I410-ECN-0101-2012-569-004343012

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